第二章晶体结构的缺陷第4讲.pptVIP

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  • 2017-05-17 发布于广东
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第二章晶体结构的缺陷第4讲

2.7 半导体晶体中的掺杂缺陷—电子缺陷 根据能带理论,当原子或离子紧密堆积形成晶体时,外层 价电子是离域的,所有的价电子归整个晶格的原子所共有。 外层电子(能量高) 势垒穿透概率较大,可以在整个固体中 运动, 称为共有化电子。 内层电子与原子核结合较紧,一般是非共有化电子。 价电子波函数线性组合形成的分子轨道在空间上延伸到整 个晶体。 分子轨道数目很多,而其能量间隔极小,所以就形成能带。 能带结构及导体、半导体 和绝缘体的划分 根据电子占据情况能带分为: 满带:由充满电子的能级构     成,能量较低; 价带:由未充满电子的能级     构成,能量较高; 空带:由未填电子的能级构     成,能量较高;  禁带:满带顶到导带底之间     的能量间隔。 本征半导体:物体的半导体性质是由电子从满带激发到导        带而产生的。   载流子:电子和空穴。   高纯半导体在较高温度时,才具有本征半导体的性质。 杂质半导体:半导体中掺入杂质时,其导电性能和导电机        构与本征半导体不同。    载流子:电子(n-型)或空穴(p-型)。    实际使用的半导体都是掺杂的,掺杂不仅可增加半导 体的导电能力,并且可通过控制掺入杂质原子的种类和 数量形成不同类型的半导体。   一般化合物其化学式符合倍比定律和定比

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