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第四章 原子吸收光谱法(AAS) （Atomic absorption spectrometry） 学习目的 通过本章学习，应掌握原子吸收法的基本概念及基本原理；理解原子谱线变宽的原因；掌握原子吸收光谱仪的基本构造及其功能；掌握原子吸收法的应用（定量分析）。掌握原子荧光光谱法的基本原理及定量分析法。 本章主要内容 4.1 原子吸收光谱法概述 4.2 原子吸收光谱法基本原理 4.3 原子吸收光谱仪 4.4 原子吸收光谱分析中的干扰效应及抑制 方法 4.5 原子吸收光谱实验技术和分析方法 4.6 原子荧光光谱法简介 4.1 原子吸收光谱法概述 原子吸收光谱法又称原子吸收分光光度法，简称原子吸收。 是指气态基态原子对于同种原子发射出来的特征光谱辐射具有吸收能力的现象。属于原子光谱，线状，主要用于定量分析。 从上述定义看，要使原子吸收光谱应用于分析，则必须具备下列条件： （1）将试样溶液中待测元素原子化； （2）要有一个光强稳定，能够给出待测元素原子特征的光辐射光源，使之通过待测元素原子区域； （3）测量吸光度，计算待测元素的含量。 AAS是一种重要的成分分析法，可对70多种元素进行定量分析，不用于定性分析。该法具有灵敏度高、选择性好、准确度高、操作简便、分析速度快等特点，在许多部门得到广泛的应用。 4.2 原子吸收光谱法基本原理 一、原子吸收光谱的产生 1.产生过程 当有辐射通过自由原子蒸气，且入射辐射的频率等于原子中的电子由基态跃迁到较高能态（一般情况下都是第一激发态）所需要的能量频率时，原子就要从辐射场中吸收能量，产生共振吸收，电子由基态跃迁到激发态，同时伴随着原子吸收光谱的产生。 2. Boltzmann分布定律 若激发态原子和基态原子处于热力学平衡状态下，其比例大小可用Boltzmann方程表示： Ni/N0 = gi/g0·e-Ei/kT Ni-激发态原子，N0-基态原子，gi/g0-统计权重，Ei-激发原子需要能量，T-绝对温度，k- Bottzmann常数 例如钠原子在2500K和2510K时，激发态32P3/2.1/2和基态32S1/2原子数的比例。 ①T=2500K时，Nj/N0=1.72×10-4 ②T=2510K时，Nj/N0=1.79×10-4 结合教材第95页表4-1，请同学们讨论温度对AES和AAS哪个影响更大？ 3.原子谱线的轮廓 前面已经述及，原子谱线为线状光谱，但并非一条单色的几何线，而是具有一定宽度和轮廓的谱线，即谱线强度随波长或频率而变化。如图所示 描述谱线轮廓特征的物理量是中心频率（ν0）和半宽度（Δν）。 中心频率：是吸收或发射最大强度辐射所对应的频率，其能量等于产生吸收或发射两量子能级间真空的能量差。 ΔE=E2-E1=hν0 半宽度：是指峰值辐射强度一半处所对应的频率范围。 谱线变宽的因素 （1）自然变宽：无外界条件影响时的谱线宽度。其大小与原子处在激发态时的寿命（τ）有关，ΔνN∝1/τ，ΔνN约10-5nm。 （2）多普勒（Doppler）变宽 多普勒变宽又称热变宽，它是发射原子热运动的结果，即多普勒效应。 多普勒变宽随温度↑、谱线中心频率增大和原子量减小而增大。在一般火焰温度下，半宽度约为10-4～10-3nm。为主要影响因素。 （3）碰撞变宽(压力变宽) 碰撞变宽 原因：主要是发光原子或吸光原子与其他粒子（包括同种粒子）发生非弹性碰撞，使原子“辐射”中断，激发态原子平均寿命缩短，导致谱线变宽。 （4）自吸及自吸变宽 处于高能级的粒子可以发射光子，处于低能级的粒子可以吸收光子。辐射能被发射原子自身吸收而使谱线发射强度减弱的现象称为自吸，严重的自吸称为“自蚀”。 谱线自吸引起的变宽称为自吸变宽。 请见下图： 二、原子吸收的测量 1、积分吸收法 前面已讨论，原子谱线并非单色的几何线，而是有一定的宽度。所以原子吸收线也有一定的宽度，即谱线强度随频率或波长发生变化。 若将一特征发射光（强度为I 0ν）通过密度相同的原子蒸气，有一部分光被吸收，其透过光的强度（Iν）与原子蒸气的宽度有关，即朗伯定律。 Iν = I 0νe -KνL ① 将一条原子吸收线看成是由若干极为精细的、频率相差甚小的光波所组成（如图所示），若按吸收定律求得各相应的吸收系数Kν1、Kν2、Kν3、‥等，则可绘制出相应的积分吸收曲线（如图所示），此即为吸收线的轮廓。 将这条曲线进行积分，即∫Kνdν，其结果便是谱线轮廓内的总面积，代表整个原子线的吸收，称“积分吸收”。 根据经典色散理论：谱线的积分吸收与火焰中的基态原子数的关系为： ∫Kνdν= 由②式可见，谱线