CuW触头着色探伤缺陷的研究.pdfVIP

工材料 2008No．4 吴文安等：CuW触头着色探伤缺陷的研究 33 CuW 触头着色探伤缺陷的研究 吴文安，时 代，韩会秋，李志鹏，肖春林 (辽宁金 昌新材料有限公司，辽宁抚顺 113008) 摘要：重点研究了CuW 触头产品着色探伤缺陷的种类、缺陷材料机械性能、缺陷材料断 口形貌宏观分 析，提出了CuW 触头着色探伤缺陷的判定原则和方法。材料性能试验结果表明，着色探伤缺陷产品中 具有 CuW疏松、CuW—Cu界面裂纹、Cu端裂纹和 Cu端疏松缺陷的材料其抗拉强度、硬度低于无缺陷 材料，不符合 CuW 触头的技术要求；具有 CuW—Cu界面气孔缺陷的材料其抗拉强度与无缺陷材料相 当，符合CuW 触头的技术要求。通过对 CuW 触头着色探伤缺陷断口组织形貌宏观分析，发现着色探伤 缺陷部位是CuW触头的内部缺陷组织，材料缺陷具有一定的深度，在材料受力时预先开裂，产生了应 力集中，减少了材料的受力面积，使 CuW触头的机械性能降低，这是导致CuW触头着色探伤缺陷机械 性