EMC测试实质.doc

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EMC测试实质

EMC 测试实质 1.5.1 辐射发射测试实质 辐射发射测试实质上就是测试产品中两种等效天线所产生的辐射信号,第一种是等效天 线信号环路,环路是产生的辐射等效天线,这种辐射产生的源头是环路中流动着的电流信号 (这种电流信号通常为正常工作信号,它是一种差模信号,如时钟信号及其谐波),如图 1.31 所示。如果环路面积为 S 的环路中流动着电流强度为 I、频率为 F 的信号,那么,在自由空 间中,距环路 D 处所产生的辐射强度为: E (1.3SIF2 / D (1.9) 式中,E 为电场强度,单位为 uV/m;S 为环路面积,单位为cm ;I 为电流强度,单位为 A; 2 F 为信号频率,单位为 MHz;D 为距离,单位为 m。 I D S E 图 1.31 环路成为等效辐射天线 电子产品中任何信号的传递都存在环路,如果信号是交变的,那么信号所在的环路都会 产生辐射,当产品中信号的电流大小、频率确定后,信号环路产生的辐射强度与环路面积有 关,因此,控制信号环路的面积是控制 EMC 问题的一个重要的课题。 产品中产生无意辐射的另一种等效天线模型是单极天线(如图 1.21(a)所示),或对称 偶极子天线(如图 1.21(b)所示),这些被等效成单极天线或对称偶极子天线的导体通常是 产品中的电缆或其他尺寸较长的导体。这种辐射产生的源头是电缆或其他尺寸较长的导体中 (等效天线)流动着的共模电流信号。它通常不是电缆或长尺寸导体中的有用工作信号,而 是一种寄生的“无用”信号,研究这种产生共模辐射的共模电流大小是研究辐射发射问题的 重点。如图 1.21 所示,如果在天线上流动着电流强度为 I、频率为 F 的信号,那么,在距天 线 D 处所产生的辐射强度为: 当 F ( 30MHz,D (1m并且L ( ( / 2 时, E ( 0.63ILF / D (1.10) 当 L ( ( / 2时, E ( 60( I / D (1.11) 式(1.10)和式(1.11)中,E 为电场强度,单位为 uV/m;I 为电流强度,单位为 uA; F 为信号频率,单位为 MHz;D 为距离,单位为 m;L 为电缆长度,单位为 m。 在电子产品中,除了产品功能电路原理图所表述的信息外,还存在非常多未知的信息, 如信号线与信号线之间的寄生电容、寄生电感,信号线与参考地之间的寄生电容,信号线的 引线电感,等等。这些参数都是频率相关参数,而且值都很小,在直流或低频情况下,通常 被设计者忽略,但是在辐射发射所考虑的高频范围内,这些参数将会产生越来越重要的影响。 也是这些原因使得产品中的这些等效天线(电缆或长尺寸导体)中寄生着一种非期望的共模 电流,它的电流强度很小(通常在 mA 级以下或 uA 级),但是它是产生产品辐射发射的主要 原因(这种共模电流的产生原理在以后的章节中进行描述)。从式(1.11)还可以看出,当 产品中等效天线的长度大于天线中信号频率波长的 1/2 时,天线产生的辐射强度只与天线上 共模电流大小有关。可见,研究产品中电缆或长导体尺寸中的共模电流大小,对于控制产品 的辐射发射具有极其重要的意义。 通过大量的实践证明大部分产品中的辐射发射问题产生于产品中这种等效的单极天线 或偶极子天线,特别是随着多层 PCB 技术应用,信号的环路面积被控制得越来越小,正常 工作信号环路所产生的辐射越来越有限。如案例 25《环路引起的辐射发射超标》是表达消 除环路辐射一种误解的一个实例。相反,等效单极天线或偶极子天线所产生的辐射岁产品的 复杂化,越来越成为当今工程师们所关注的重点。 对于军标和汽车电子相关产品的辐射发射测试,标准会要求在实验台上铺设参考接地 板,并把 EUT 包括 EUT 上的电缆(等效辐射发射天线)放置在离该参考接地板 5cm 高的绝 缘支架上,如附录中的图 B.3 和图 B.6 所示,这块参考接地板将对辐射发射结果产生很大的 影响。在理论上,当 EUT 中成为辐射发射等效天线的电缆放置在离参考地平面 h 的高度时 (如图 1.32 所示),不同情况 E0 EUT h IHE E(h) 参考接地板 图 1.32 置于参考接地板上的电缆辐射发射被参考接地板衰减 当 h ( ( /10 时, E(h) (E (10( /( (1.12) 0 h 当 h ( ( /10 时, 0 ( E(h) ( 2E (1.13) 0 式(1.12)和(1.13)中,h 为辐射发射等效天线的电缆放置在离参考接地平面 h 的高 度,单位为(m);E为辐射发射等效天线的电缆在自由空间中的辐射强度,单位为(V/m); 0 E(h)为辐射发射等效天线的电缆放置在离参考接地平面 h 的高度时向空间辐射强度,单位为 (V/m);(为波长,单位为(m)。 根据单极天线和偶极

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