频率特性测试仪报告课案.docx

简易频率特性测试仪摘要：本次设计制作的频率特性测试仪主要由正交扫频信号源、被测网络、乘法器、低通滤波和显示等模块组成。通过数字合成器AD9854产生两路正交信号，经过放大器放大后，通过待测RLC网络，输出信号与乘法器AD835相乘，后通过低通滤波器滤出直流分量，经过放大后送入AD。整体电路采用320*240分辨率的屏幕显示，由stm32单片机采集数据绘制相应的特性曲线，本系统具有低成本、人机友好等特点。该设计是一份较好的简易频率特性测试仪方案，可基本达到所有设计要求。关键字：频率特性测试仪，AD9854，stm32单片机一、方案论证与比较1.正交扫频信号源方案比较：方案一：采用FPGA与DA结合构建DDS部分，通过程序控制频率，由DA输出波形。但是FPGA倍频后无法达到稳定度≤0.0001，且制作复杂，整体成本较高，所以不建议采用本方案。方案二：采用高速数字合成器AD9854，可以输出I、Q两路合成信号。AD9854允许输出的信号频率高达150MHZ,系统时钟最高可达300M。输出误差和输出失调都很小，符合本次设计要求，所以决定采用此方案。2.乘法器方案比较：方案一：利用运放与比较器搭建乘法器电路，整体电路制作复杂，且很难达到高频率的要求，所以不采用此方案。方案二：利用高速乘法器AD835，其特点是带宽可达250MHz，外围电路简单，制作方便。可达到设计要求，所以决定采用此方案。3