第3章 自动测试生成.ppt

南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系 研究该模型的前提： 原始输入是独立控制的，只有原始输出是可观的。 即，测试向量只能加在原始输x1,x2,…,xk上， 故障效应只能在原始输出Z1,Z2,…,Zm观察到。 电路的内部状态是不可观的。 还要假设的前提： 无故障电路是根据状态表化简后实现的电路。即， 无故障电路没有两个或两个以上等效的状态； 电路是紧密连接的（电路对于每一对有序的状态(Si, Sj)，有且只有一个输入序列，使得电路从状态Si转换到状态Sj）。 第4章 自动测试生成 南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系 4.7.2 时序电路的测试生成模型 时序电路的测试向量序列要完成两个功能： 使被测电路进入适当的状态和在此状态检测给定故障。 例，检测上图中的C/0故障，需要两个测试矢量： V1=(A=1,Z=1) 把电路从上电复位状态引导到确定状态S=1，从而建立 从故障源处C到原始输出Z的敏化路径； V2=(A=0,Z=0) 用于激活故障，路径敏化，可验证故障效应。 另一个测试矢量(A=0,Z=0)也可以把电路引导到相同的确切状态，它与V2一起使用也可以检测C/0。 A Q 第4章 自动测试生成 为了表示时序电路的不同状态，把时间轴划分为时间段，每个时间段表示电路处于不同的状态，如图4.20(a)所示。其中CC 表示组合逻辑电路；S表示存储电路。 图4.20 测试生成模型 图4.20(b)表示时序电路的典型测试矢量序列集，该序列包含许多测试序列，每一序列用于测试一给定故障。 第4章 自动测试生成 南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系 在给定时间段n，CC的输出信号是原始输出Z(n)和二次输出Y(n)，存储电路S的输出y(n)也就是CC的二次输入，则由CC的当前二次输出Y(n)及S的前一状态y(n-1)确定。每一个时段的电路模型实际上是原始电路的“复制”，但不同时段电路模型的输入输出不同。当把时段t=0,1,…,n时的每一个时段模型首尾相连，就得到一个重复的组合逻辑阵列，每一个时段的电路就是组合电路，因此这样的模型把一个时序电路转换成了组合电路。 任意时段n的原始输入 都是一个矢量，另记为V(n)，如果矢量序列V(1),V(2),…,V(n)能检测一给定故障，就称该矢量序列为测试序列或测试矢量序列，对应的CC的原始输出为Z(0),Z(1),…,Z(n-1),Z(n)，称之为测试响应序列或测试响应。对应的存储电路S的输出为序列形式：y(0),y(1),…,y(n-1),y(n)。 第4章 自动测试生成 南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系 实际测试中对一给定故障所施加的测试序列，其顺序不应改变，因为时序电路的当前状态不仅与电路的当前输入有关，还与电路的历史状态有关。 在测试生成的开始阶段，需要知道CUT的通电初始状态，然后对当前状态寻找矢量序列，再对次态寻找矢量序列，直到找到最后状态对应的矢量，至此完成故障检测。 如果初始状态不可知，需施加初始化序列HS，使得CUT转换到已知状态。 4.7.3 扩展的向后追踪（驱赶）算法(R.Marlett,1978年） 时序电路故障的测试生成包括两方面： 状态初始化——用于确定初始化矢量序列，此序列使得电路从任意状态进入到特定的故障效应可传播的状态。 故障效应传播（故障激活与传播）——用以确定把电路置于何种状态，这样就可通过施加额外的测试矢量使得故障在原始输出可观。 第4章 自动测试生成 南京航空航天大学 信息科学与技术学院 电子工程系 测试生成既可用时间正向处理法，也可用时间反向处理法。 正向处理：生成的矢量与矢量施