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TR-5000 Series 手冊 資料庫 D. Ver ：1.A D-1 程式庫架構(LIBRARY STRUCTURE) D-1-1 程式庫的意義 D-1-2 程式庫的位置 D-1-3 程式庫檔案命名原則 D-2 程式庫電壓資料 D-2-1 電壓資料的意義 D-2-2 電壓準位(VOLTAGE LEVEL) D-2-3 腳位屬性(PIN ATTRIBUTE) D-2-4 範例INTEL 82845G D-3 TTL 程式庫 D-3-1 TTL 程式庫 D-3-2 基本資料語法 D-3-3 例外狀況 D-3-4 範例1 : 4 2-INPUT NAND GATE, 7400 D-3-5 範例2 : 2 D-TYPE FILP-FLOPS, 7474 D-3-6 範例3 : 8 BUFFER WITH 3-STATE, 74125 D-3-7 範例4 : 2 2-4 DECODERS, 74155 D-3-8 範例5 : DIDIRECTION BUFFER, 74245 D-3-9 範例6 : 2 4-INPUT NAND GATE, 4012 D-4 TREE 程式庫 D-4-1 TREE CHAIN 程式庫 D-4-2 BGA PIN 定義方法 D-4-3 IC 基本資料語法 D-4-4 範例1 : INTEL 82371AB,腳位定義使用數字 D-4-5 範例2 : INTEL 82371AB,腳位定義使用字母加數字 D-4-6 INTEL 82371AB 規格表 D-5 MEMORY 程式庫 D-5-1 MEMORY 程式庫 D-5-2 MEMORY IC 腳位定義 D-5-2-1 SRAM D-5-2-2 SDRAM D-5-2-3 DDR D-5-3 基本資料語法 D-5-4 範例1 : 64M (1MX16X4) SDRAM D-5-5 範例2 : 256M (8MX8X4) SDRAM D-5-6 範例3 : 512K (32KX8X1) SRAM D-6 DISABLE 程式庫 D-6-1 DISABLE 程式庫 D-6-2 資料語法 Ver ：1.A D-7 BOUNDARY SCAN 程式庫 D-7-1 BOUNDARY SCAN 程式庫 D-7-2 BOUNDARY-SCAN 基本概念 D-7-3 範例 D-8 OBP 元件測試程式庫 D-8-1 OBP 元件測試程式庫 D-8-2 基本語法資料 D-8-2-1 BASIC D-8-2-2 CONTROL_PATTERN_DUT_WR D-8-2-3 CONTROL_PATTERN_DUT_RD D-8-2-4 CONTROL_PATTERN_INT_WR D-8-2-5 CONTROL_PATTERN_INT_RD D-8-2-6 COMMAND_CODE D-8-2-7 WIRE_DATA D-8-3 範例: 28F800C3.OBL D-9 TCT 程式庫 D-9-1 TCT 程式庫 D-9-2 IC 基本資料語法 D-9-3 IC FET 資料語法 D-9-4 NORTHWOOD 範例 Ver ：1.A