容值偏低情况的.doc

电容值偏低情况讨论 常见电容，以其温度特性区分为NPO，X7R，Y5V按这一顺序对温度，电压，频率作较少地电容值变化。Y5V是各常用电容类容值变化最大的，是因为 材料为高能量介质的特性。 AGING(参考EIA-98－D 第一页) 陶瓷电容，其电容值及损耗会因时间，温度，测量电容，频率而改变，此改变成为AGING. Y5V电容在静放45天（1000小时），电容值下降约为10％，通常下降不多于20％。如电容105＝1.0uf，＋80％－20％，0.85uf也是合格规格范围，但存放超过3个月，电容会下降到0.76uf，（－10％），在这种情况便会出现容值偏低问题。热处理（EIA-198-D）及skywell电容规格书第六项）慢加热到150度持续一个小时，后放置回室温测量――此电容值回回复正常（随着加压，电容极化能力加强） 此类电容虽然会自然衰退，但经过SMT加工的焊炉加热及老化后（此过程相当于回火），其电容值通常都会回升到设计生产时的水平。 测量仪器及夹具 测量陶瓷电容必须有稳定的信号输入1.0±0.1V，1.0KHz±10％的频率，（容量高于10UF时频率为120HZ）。 电压低于1.0V±0.1电容值会下降;频率不足会引起电容值的不足。 说明：电压是指测试状态下电容两端的电压，可用仪表量出。 （三）测量仪器LCR之分别： 各仪器的内阻抗不同而有不同的电容值读数。 越高的电容值，因仪器的内阻抗而导致内电压的不足，降低了电容值的读数。 要使用正常的夹具。 电容材料之分别 SKYWELL电容材料采用BaTiO3环保材料，放弃含铅Pb Relaxer,但测量仪器的内电压不足会导致较严重的电容值下降情况。同时高值电容（from 0.22uf to 10uf）的内电极是由于新一代金属材料Nickel为主要材料，此材料与测试电压的放映相当敏感。 因此判断一颗电容好坏要满足三个测量条件： 测试陶瓷电容必须有稳定的信号输入1V±0.1V。 电压低于1.0V电压时，容值会下降。以1。0UF电容为例，工厂在生产时一般设计成1。2UF（日系一般设计为1.4UF）但由于此材料（Y5V，Nickel）自然衰退比较快，一般在1000小时以后会自然老化，容值会下降到1.0UF左右，若测量测试电压为0.7V，测量结果会衰减79%左右而成为0.79UF左右的电容值。 频率应该为1KHZ，频率不足也会导致容值的偏低。 温度也是一个因素，应该在室温25C的条件下。请参考电压衰减图： 就我们所知，国内大多数的测量仪器的内电压都是0.3V，因此测量高容值的电容时会产生偏差。 对于同一种电容，有人会提出：“为什么同种电容有的会偏于下限？”举个简单的例子，假如由于内电压引起电容下降20%，有的仪器不止，甚至更多。以100NF，±20%电容为例，其范围应该是80—120NF。一颗为实值118NF电容，其测量值则为94.4NF，另一颗为实值90NF的电容，其测量值便为72NF（误认为不良品）。就是说，上限的电容会落在测量值的范围，下限的电容会偏于你们的测量范围。