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原子分辨显微分析技术研究进展

物理化学学~E(WuliHuaxueXuebao1 1370 Acta脚 .一Chim.Sin.2013,29(7),1370—1384 July [Review] doi:10.3866/PKU.WHXB201304191 www.whxb.pku.edu.cn 原子分辨显微分析技术研究进展 袁秉凯 陈鹏程’ 仉 君 ’ 程志海 ’ 裘晓辉 王 琛 (’国家纳米科学中心,北京 100190; 北京大学前沿交叉学科研究院,北京 100871) 摘要:非接触原子力显微技术(NC-AFM)近年来发展迅速.NC-AFM对单个分子的成像和谱学实现了原子分 辨和单个化学键分辨.NC—AFM 自身功能的拓展及其与不同探针技术的联用将为材料、物理、化学和生命科学 有关的研究提供崭新的思路.本文首先介绍NC-AFM和qPlus传感器的基本原理,然后讨论原子尺度的相互作 用力和短程力的精确测量,总结近年来NC—AFM在原子尺度的化学结构成像、化学识别、电子结构性质分析以 及原子操纵技术中的研究进展,并讨论了开尔文探针力显微技术(KPFM)在局域接触势差(LCPD)测量方面的 应用.最后展望了NC—AFM面临的挑战和发展机遇. 关键词: 扫描探针显微技术:非接触原子力显微技术: qPlus传感器:化学识别:原子操纵: 电子结构 开尔文探针力显微技术 中图分类号: 0647 ResearchProgressinAtomicResolutionMicroscopy YUANBing-Kai’_ CHENPeng-Cheng’ ZHANG Jun’ CHENGZhi—Hal’ QIUXiao.Hui’, WANG Chen (NationalCenterforNanoscienceandTechnology,Beoing100190,PR.China;2AcademyforAdvancedInterdisciplinaryStudies PekingUniversity,Bejiing100871,PR.China) Abstract: Tremendousprogresshasbeen made innon—contactatomicforcemicroscopy (NC.AFM) recently.ThespatialresolutionofNC-AFM imagingandspectroscopyofindividuaImoleculesonsurfaces hasreached true atomicresolution and bond differentiation leve1.Combination ofNC.AFM with other scanning probe techniquescan open a new way formaterials,physics,chemist~,and biochemist~ studies.Inthisreview.wefirstintroducethebasicprincipleofNC—AFM andqPlussensor.Theinteraction forceatatomicscaleandprecisemeasurementofsh0rt-rangeforceare discussed.We summarizethe recentadvances in structuraldetermination oforganic molecules,chemicalidentification。electronic structure,andatomicmanipulation attheatomic scale.Ina

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