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溶液法制备的氧化锌多层膜及其场效应性质
物理化学学~(WuliHuaxueXuebao)
January ActaPhys.一Chim.Sin.,2010,26(1):249—252 249
[Article] www.whxb.pku.edu.cn
溶液法制备的氧化锌多层膜及其场效应性质
王小燕 董桂芳 乔 娟 王立铎 邱
(清华大学化学系,有机光电子与分子T程教育部重点实验室,北京 100084)
摘要: 通过旋涂法,采用不同浓度的前躯体制备了氧化锌多层膜,并制备了基于此多层膜的薄膜晶体管器件.
实验证明,基于按照氧化锌前躯体浓度顺序为 0.25、0.10和0.05mol·L--依次旋涂前躯体溶液制备的氧化锌薄
膜的晶体管器件的载流子迁移率为0.02cm V·。。·s~,高于按照浓度顺序为O.05、O.10和0.25mol·L。。依次旋涂前
躯体溶液制备的氧化锌薄膜的载流子迁移率(0.013cm扎V-s-L).原子力显微镜(AFM)结果表明,前一种薄膜粗糙
度的均方根值(rms)为3.95nm,而后一种薄膜粗糙度的rillS远远高于前者,为4.52nm,这就说明了氧化锌薄膜的
粗糙度对薄膜的半导体性质有很大的影响,这是由于平整的薄膜有利于形成理想的源,漏电极与半导体层的接
触.在晶体管中,起传输作用的半导体层是靠近ZnO/SiO 界面处的几纳米的半导体层中的氧化锌晶粒,因此起
始形成的氧化锌薄膜的结晶度影响着晶体管的性能.采用x射线衍射(XRD)N试了多层膜中起始形成的薄膜的
结晶性能.对于前一种薄膜,起始形成的薄膜为多晶薄膜,而对于后一种薄膜,起始形成的薄膜是无定形薄膜.因
此,粗糙度以及起始形成的薄膜的结晶度影响着多层半导体薄膜的性质.
关键词: 溶液处理;氧化锌;多层膜;场效应;薄膜晶体管
中图分类号: 0649
PreparationandField·EffectPropertyofSolution-Processed
M ultilayerZincOxide
WANGXiao-Yan DONGGui—Fang QIAOJuan WANGLi—Duo QIUYong
(KeyLaboratoryofOrganicOptoelectronicsandMolecularEngineeringofMinistryofEducation,DepartmentofChemistry
TsinghuaUniversity,Beijing 100084,P.R.China)
Abstract: Inthispfdper,wedescribemultilayerZn0 thinfilmspreparedbyspin—coatingprecursorsolutionsofdifferent
concentrations.ThemultilayerZnO thinfilmswereemployedasactivelayersinthinfilm rtansistorsfTFrs1.A T
devicebasedon athree—layerZn0 film preparedusingprecursorconcentrationsof0.25.0.10.andO.05mol·L
showedahighermobilityof0.02cm2~V一 s comparedwiht aTFTdevicefmobilityof0.013cm2~V一·s_11preparedusing
precursorconcenrtations
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