CH15波动光学1.pptVIP

15.3.2 等厚干涉 1.劈尖干涉 空气劈尖 介质劈尖 n （1）干涉情况分析 n θ λ ek ek+1 l 光程差： 明条纹 暗条纹 （2）相邻两暗（明）纹的间距 相邻条纹间的距离： （3）讨论： （ a）利用劈尖可以测量微小角度θ，微小厚度及照射光的波长. （b）空气劈尖在尖端是暗纹. （c）对于同一级干涉条纹，具有相同的介质厚度. （d）干涉条纹的移动： 相邻条纹间的距离： 明条纹暗条纹公式： 应用一 薄膜厚度的测量 L d l 薄膜厚度： 条纹数 测量原理 在半导体元件生产中，测定硅片上的二氧化硅薄膜厚度的常用方法是：将薄膜的一部分磨成劈形膜，通过观察垂直入射光在其上面产生的干涉条纹，计算出厚度. 说明: ?k反映了偏离直线条纹的程度. 应用二 光学表面检查 e ?e 测量原理 若因畸变使某处移动了一个条纹的距离，?k=1，则 k-1 k k+1 表面凸起 k-1 k k+1 表面凹陷 例15-4. 有一玻璃劈尖，放在空气中，劈尖夹角?=8?10-5rad. 波长?=0.589?m的单色光垂直入射时，测得干涉条纹的宽度为l=2.4mm，求玻璃的折射率. 解： 2. 牛顿环 空气牛顿环的特点： 干涉条纹是以平凸透镜与平面玻璃板的接触点为圆心的明暗相间的圆环，中心为暗点；条