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OBDD在组合逻辑电路测试中的应用研究
第 30 卷第 6 期 微 电 子 学 V o l30, № 6
2000 年 12 月 M icroelectron ics D ec 2000
文章编号:(2000)
O BDD 在组合逻辑电路测试中的应用研究
吕宗伟, 张 镭, 林争辉
(上海交通大学 大规模集成电路研究所, 上海 200030)
摘 要: 由于传统的组合电路测试方法, 如 算法、 算法和 算法等, 在搜索过程中
D POD EM FAN
都不可避免地要进行反向回溯, 因此严重地影响了算法的效率。而OBDD 是一种表示和操纵布尔
函数的有效方法, 用OBDD 来表示电路中每个节点所代表的逻辑函数, 可以把反向回溯过程转换
为OBDD 的sat isf iab ility 问题, 从而避免了反向回溯过程, 加快了故障测试的速度。同时,OBDD 在
测试矢量集的生成以及 n ece ssary a ssignm en t 的确定中也显示出一定的优越性。
关键词: 组合逻辑电路; 故障检测; 测试生成; OBDD
中图分类号: 43 12 文献标识码:
TN A
An Inve st iga t ion in to the A ppl ica t ion of O BDD to the Te st
Gen era t ion of Com b ina t iona l L og ic C ircu its
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L U Zon g w ei ZHAN G L ei L IN Zh en g hu i
( , , 200030, . . )
L S I R esea rch I ns titu te S hang ha i J iaotong U n iv ers ity S hang ha i P R Ch ina
A bstract: T h e conven t ion a l te st gen erat ion a lgo r ithm s fo r com b in at ion a l log ic circu it s, su ch a s D a lgo r ithm 、
,
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