材料现代研究方法 第一章 组织形貌分析概论.pptVIP

材料现代研究方法Modern Methods of Materials Analysis  天津大学材料科学与工程学院 参考书目 杜希文，原续波主编，材料分析方法，天津大学出版社 (教材) 刘文西等著，材料结构电子显微分析，天津大学出版社 李润卿，范国梁，渠荣遴编著 ，有机结构波谱分析 ，天津大学出版社 范雄主编 ，X射线金属学 ，机械工业出版社 课程内容 第一篇 组织形貌分析 第二篇 晶体物相分析 第三篇 成分和价键（电子）结构分析 第四篇 分子结构分析 第 1 篇 组织形貌分析 第一章 组织形貌分析概论 第一章 组织形貌分析概论 1. 组织形貌分析的含义和发展阶段 2. 光学显微镜 3. 电子显微镜 4. 扫描探针显微镜 1. 2 组织形貌显微技术的 三个发展阶段 组织形貌分析借助各种显微技术认识材料的微观结构。人们对微观世界的探索，就是建立在不断发展的显微技术之上的。 组织形貌分析的显微技术经历了光学显微镜(OM)、电子显微镜(SEM)、扫描探针显微镜(SPM)的发展过程。观测显微组织的能力不断提高，现在已经可以直接观测到原子的图像。 它的最高分辨率为0.2μm，是人眼的分辨率的500倍。 2.2 光学显微镜的分辨率 分辨率是可分辨的两点间的最小距离，制约光学显微镜分辨率的因素是光的衍射。衍射使物体上的一个点在成像的时候不会是一个点，而是一个衍射光斑。如果两个衍射光斑靠得太近，它们将无法被区分开来。 分辨率与照明源的波长直接相关，若要提高显微镜的分辨率，关键是要有短波长的照明源。 紫外线波长和X射线虽然波长比可见光短，但用作显微镜照明源存在局限性。 2.2 光学显微镜的分辨率 绝大多数物质都强烈地吸收紫外线，因此，可供照明使用的紫外线限于波长 200～250nm的范围。用紫外线作照明源，用石英玻璃透镜聚焦成像的紫外线显微镜分辨本领可达l00nm左右，比可见光显微镜提高了一倍。 X射线波长在10～0.05nm范围，γ射线的波长更短，但是由于它们直线传播且具有很强的穿透能力，不能直接被聚焦，不适用于显微镜的照明源。 波长短，又能聚焦成像的新型照明源成为迫切需要。 3.1 电子显微镜发展历程 1924年，德布罗意提出，运动的实物粒子（电子、质子、中子等）都具有波动性质，后来被电子衍射实验所证实。 1926年布施提出用轴对称的电场和磁场聚焦电子束。 在这两个理论基础上，1931～1933年鲁斯卡等设计并制造了世界第一台透射电子显微镜，目前分辨率可达0.2 nm。 （利用电子的波动性） 用于组织形貌分析的扫描电子显微镜是在1952年由英国工程师Charles Oatley发明的，分辨率达1.0 nm。（利用电子的粒子性） 3.2 扫描电子显微镜简介 扫描电子显微镜是将电子枪发射出来的电子聚焦成很细的电子束，用此电子束在样品表面进行逐行扫描，电子束激发样品表面发射二次电子，二次电子被收集并转换成电信号，在荧光屏上同步扫描成像。由于样品表面形貌各异，发射二次电子强度不同。对应在屏幕上亮度不同，得到表面形貌像。 目前扫描电子显微镜的分辨率已经达到了1 nm左右。 扫描电镜与X射线能谱配合使用，使得我们在看到样品的微观结构的同时，还能分析样品的元素成分及在相应视野内的元素分布。 4.1 扫描探针显微镜简介 1981年，IBM公司的两位科学家Gerd Binnig和Heinrich Rohrer发明了所谓的扫描隧道显微镜，完全失去了传统显微镜的概念。 扫描隧道显微镜依靠所谓的“隧道效应”工作，它没有镜头，使用一根金属探针，在探针和物体之间加上一定偏压（几十mV），当探针距离物体表面很近（纳米级）隧道效应就会起作用。电子会穿过物体与探针之间的空隙，形成一股微弱的电流。如果探针与物体的距离发生变化，电流会呈指数级改变。这样，通过测量电流可以探测物体表面的形状，分辨率可以达到原子的级别(埃，10-10m)。 三位诺贝尔物理学奖获得者 第 1 篇 组织形貌分析 第二章 光学显微技术 1. 光学显微镜的发展历程 2. 光学显微镜的成像原理 3. 光学显微镜的构造和光路图 4. 显微镜的重要光学参数 5. 样品制备 1. 1 光学显微镜的四个发展阶段 1590年，荷兰的詹森父子(Hans and zachrias Janssen) 制造出第一台原始的、放大倍数约为20倍的显微镜。 1610年，意大利物理学家伽利略(Galileo)制造了具有物镜、目镜及镜筒的复式显微镜（左图）。 1665年，英国物理学家罗伯特·胡克(Robert Hooke)用这台复式显微镜观察软木塞时发现了小的蜂房