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原子力显微镜简介剖析
Atomic Force Microscope;introduction;;Abilities and Principles;?表面传感 原子力显微镜运用悬臂末端锐利的针尖来扫描样品表面。当探针接近样品表面时，样品与针尖之间的短程吸引力吸引针尖向表面移动。然而，当表面和针尖直接接触时，排斥力将会增大并占主导作用使悬臂向上弯曲。
- 检测方法 激光束被用于检测悬臂是靠近还是远离表面。入射光束被悬臂平顶上表面反射到位敏光电二极管（PSPD）中，用来检测悬臂弯曲所导致的反射光束位置的轻微改变。当针尖通过凸起的表面形态形貌时，悬臂的弯曲和相应的反射激光束的变化都会被PSPD记录下来。
- 成像 原子力显微镜通过运用悬臂对特定区域的扫描来完成样品表面形貌成像。位敏光电二极管检测样品表面高低起伏的形貌所导致的悬臂弯曲，并通过反馈回路控制针尖在表面的高度来稳定激光位置，最终可以形成一幅精确的表??形貌像。
;Advantages and Disadvantages;Derivative function; 现在全世界大概有50个AFM生产厂家，主要市场是大学和研究单位，其中主流厂商有Bruker(德国)、 Agilent(美国)、Veeco(美国) 、NT-MDT(俄罗斯)、 JPK(德国)、和Park Systems(韩国)等，以上厂商约占全球市场份额的80%。;end
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