生产测井资料的解释及应用.ppt

从左图理论计算的C/O与孔隙度和含油饱和度关系曲线中可以看出，只有在孔隙度较大的情况下，由C/O确定的So才是比较可靠的。 岩性不同的地层，其C/O和So有不同的关系曲线，石灰岩的C/O比砂岩的高。 C/O测井 简单C/O实验室刻度曲线 2、利用C/O测井曲线值划分水淹层 含油砂岩和含水砂岩的C/O的相对差别在28%以上，油层水淹后，水淹部分C/O明显下降。如65-17井。 C/O测井 3、以Si/Ca定性指示岩性 它反映骨架中CaCO3含量的多少；并反映骨架含碳量的多少可作为C/O测井解释的参数。 C/O测井 4、确定孔隙度指数和泥质指数 中子与不同的核素产生的俘获伽玛射线能量也是不同的，因此，由俘获门接收并作能量分析，所记录的氢、钙、硅以及时铁的俘获伽玛射线的计数率，可用来计算出孔隙度指数和泥质指数。 C/O测井 氢的俘获伽玛计数率 孔隙度指数=———————————— （钙+硅）俘获伽玛计数率 铁的俘获伽玛计数率 泥质指数=———————————— （钙+硅）俘获伽玛计数率 C/O测井 这里的钙+硅反映骨架，氢反映孔隙，铁反映泥质（因为泥质中含铁量较高）。 （二）放射性同位素示踪法影响资料解释精度分析 ? 放射性同位素示踪法测井 1．微球颗粒直径大小的影响 ? 测井施工使用的放射性同位素131Ba微球，其直径在100~300μm之间。而地层在长期注水冲刷以及不断地改造中（如酸化、压裂），使地层的原生孔隙及裂缝增大，使得测井时微球不能可靠地吸附在井壁上，特别是当注水量大、注水速度高时，微球被推进地层的深部，造成了渗透性好、吸水能力强的层位，所测得的放射性同位素曲线幅度变小或无显示。 ? 因此测剖时，应区分区块的岩层特性制造和选用不同粒度径的同位素微球进行施工。目前还没有针对同位素微球进入地层而造成的散失进行解释中的校正模型研究。采用井温和同位素组合测井，这样较能正确反映地层的吸水能力。 ? 放射性同位素示踪法测井 2．现场施工的影响 ? 目前应广泛使用井口防喷测井工艺，但有些井井口压力过高造成仪器下井困难，部分单位在井口放溢流，降低井口压力，虽然可以加快施工速度，但破坏了正常注水情况下各层吸水的启动压力，造成层间干扰，不能真实反映真实的吸水剖面情况。 ? 放射性同位素示踪法测井 3．污染影响 ? （1）油管接箍 ? （2）偏心配水器和封隔器 ? （3）油管外壁和套管内壁（如死油、管柱局部腐蚀） ? 出现污染影响后，解释必须进行污染校正。 ? 放射性同位素示踪法测井 （三）应用 ? 1．定量测出分层水量 2．定性判断套管漏失点如：文检2井（吸水剖面） 3．可发现套管窜槽( 如文侧15-40井) 4．利用水井注入剖面定性推测产出剖面 （1）吸水剖面基本反映了连通油井同期的产液剖面 （2）油井水淹层明显地对应着主力吸水层 （3）随着吸水剖面的变化，连通油井产出剖面也相应地变化。? 放射性同位素示踪法测井 第三节 产出剖面测井资料的解释方法及应用 在油井生产过程中，其井内和储层的流体变化是相当复杂的。若想获得可靠的反映油井变化的产出剖面结果，除了选择适当测井仪器录取真实资料外，还必须建立起适应各种测井仪器的处理井下不同流动特性的解释方法。 产出剖面测井资料的解释方法及应用 生产测井解释就是从测井曲线中提取井内流体流动特性的定性或定量资料。依据流体力学的基本原理，井内流体流动分析离不开对流速、流体密度、温度、压力以及各相介质分布型态等相对关系的研究。 产出剖面测井资料的解释方法及应用 一、产出剖面测井解释基础方法 递减法是各种测井解释方法的基础。即取得各个产液层之间的夹层位置解释点资料，综合处理得出各解释点合层产出结果（合层产液量、合层产油量、合层产水量及合层产气量），然后逐层递减，即可得出分层的油、气、水产出状况。 产出剖面测井资料的解释方法及应用 产出剖面测井资料的解释方法及应用 产液状态示意图 具体方法：以油水两相产出为例 设仪器测得的各点合层体积流量分别为Q1、Q2、Q3；合层持水率分别为Yw1、Yw2、Yw3。 产出剖面测井资料的解释方法及应用 1．计算合层产水量 第一层合层产水量 Qw1=Q1·Yw1（m3/d）