实验二晶体管特性的测量剖析.docVIP

实验二 晶体管特性的测量与晶体管的测试 一、实验目的 了解晶体管图示仪的基本原理和晶体管的引脚及类型判别 掌握用晶体管图示仪测量晶体管特性曲线的方法 掌握运用特性曲线求晶体管特性参数的方法 二、实验内容 测试2AP11正反向特性 ⑴　正向特性 慢慢增大峰值扫描电压，直至ID=10mA，把曲线绘在绘图纸上。 读测IDQ=5mA时的正向压降VDQ，计算直流电阻RD＝VDQ/IDQ、交流电阻rD=△VD/△ID。 ⑵　反向特性 逐渐增大峰值扫描电压至100V，描下反向特性曲线。 读测VR=100V时的反向电流IR以及IR＝20μA时的反向电压VR。 测试2CW19稳压特性 读测稳压值VZQ。 在IEQ=50mA时，求动态电阻R=△VZ/△IZ。 读测IZmin值 测试晶体管共射输入输出特性 (1) 测量3DG12B的共射输出特性 描下输出特性曲线族。 在VCEQ=5V，ICQ=4~6mA求 　， 按下”零电流”开关(或断开基极) I．在VCE =10V时，读出ICEO II．调节峰值电压，使IC=100μA时，读取BVCEO (2)　测量3DG12B的共射输入特性 描下输入特性曲线族。 从输入特性曲线上求输入电阻 测量3AX31的共射输出特性 描下输出特性曲线族。 在VCEQ=5V，ICQ=3~5mA时，求， 按下”零电流”开关(或断开基极) I．在VCE = -6V