钽电容器如何实现高可靠性.doc

钽电容器如何实现高可靠性 摘要 威布尔可靠性鉴定多年以前受到MIL标准的影响，被用于钽电容器特性的评价中。多年过去，钽电容器的过程、材料、试验、设备和其他过程控制等方面都发生了重要变化。 那么，威布尔分布对于今天的钽电容器制造技术和高可靠性应用仍是最适合的吗？ 由于目前确保产品可靠性的威布尔等级是有缺陷的，因此需要找到一种的新方法，尤其是，这种方法针对早期寿命失效以及在为确保威布尔加速因子最大化的工作中过载电压的潜在危害应用。 本文所讨论的内容与现有的老化过程、DC漏电流筛选技术以及过程监视中改进相关的修正有关。这些修正可改善钽电容器DC漏电流的一致性，也就是消除电场感应给电介质所造成的潜在损害。其结果是钽电容器在零失效误差使用中可获得最好的性能。 前言 有这样一个已建立起来的概念，钽阳极块中所存在的杂质会对Ta2O5电介质层造成破坏。除了由于其他制造过程导致的缺陷之外，这些破坏会导致漏电流增加、参数缺乏稳定性或是出现灾难性的电介质击穿。这些非同质缺陷的出现可通过对材料和过程的控制来实现减小，事实上通过实施适当的试验方法可消除此类非同质缺陷。 批次产品的非同质缺陷点消除之后，依然会有大量的同质缺陷存在，在参数上表现为漏电流，在现象上表现为电子陷阱。电介质鲁棒性能具有两种特性，一种特性是阻碍灾难性的介质失效，另外一种特性是保持参数泄漏的稳定性。通过热化学模型方式，可将这两种