网络综合布线技术第7章工程测试与验收2.ppt

3. 光功率计校准 　　校准光功率计的目的是确定进入光纤段的光功率大小，校准光功率计时，用两个测试用光缆跳线把功率计和光源连接起来，用参照适配器把测试用光缆跳线两端连接起来。 4.光纤链路的测试 (1) 测试光纤链路的目的是要了解光信号在光纤路径上传输衰耗，该衰耗与光纤链路的长度、传导特性、连接器的数目、接头的多少有关。 (2) 测试按图7-28所示进行连接。 (3) 测试连接前应对光连接的插头、插座进行清洁处理，防止接头不干净带来附加损耗，造成测试结果不准确。 (4) 向主机输入测量损耗标准值。 (5) 操作测试仪，在所选择的波长上分别进行两个方向的光传输衰耗测试。 (6) 报告在不同波长下不同方向的链路衰减测试结果。“通过”与“失败”。 图7-28 光纤链路衰减测量 　　单模光纤链路的测试同样参考上述过程进行，但光功率计和光源模块应当换为单模的。 5. FLUKE光纤测试仪表 (1）DSP-FTK 光缆测试工具。用于测量室内和局域网的光缆的光功率和功率损耗。 　　包括光功率表(DSP-FOM)、850/1300nm LED组合光源(DSP-FOS)、测试连接光缆、适配器。 ● 故障诊断步骤。当测试结果未通过时，就可启动DSP-4X00故障诊断程序对故障进行分析。方法是按故障诊断键[Fault Info]。 　　测试仪就提供即时的诊断图表，如图7-25先自动显示故障点：1,2-3,6的NEXT未通过；再启动TDR或TDX进行故障分析，如图7-26是用时域串扰TDX分析NEXT失败的地点和大小。 图7-25自动显示故障点 图7-26 TDX时域串扰分析 ● 故障类型及解决方法 电缆接线图未通过：电缆接线图及长度问题主要包括开路、短路、交叉等几种错误类型。 　　开路、短路在故障点都会有很大的阻抗变化，对这类故障都可以利用HDTDR技术来进行定位。 　　故障点会对测试信号造成不同程度的反射，并且不同的故障类型的阻抗变化是不同的，因此测试设备可以通过测试信号相位的变化以及相位的反射时延来判断故障类型和距离。 　　当然定位的准确与否还受设备设定的信号在该链路中的标称传输率（NVP）值决定。 长度问题： 　　长度未通过的原因可能有：NVP设置不正确，可用已知的长度的好线缆校准NVP；实际长度超长；开路或短路；设备连线及跨接线的总长过长。 ●　　信号的衰减同很多因素有关，如现场的温度、湿度、频率、电缆长度、端接工艺等。 　　在现场测试工程中，在电缆材质合格的前提下，衰减大多与电缆超长有关，通过前面的介绍我们很容易知道，对于链路超长可以通过HDTDR技术进行精确的定位。 ●　　近端串扰故障常见于链路中的接插件部位，由于端接时工艺不规范，如接头末双绞线部分超过推荐的13mm，造成了电缆绞距被破坏，从而导致在这些位置产生过高的串扰。 　　串扰不仅仅发生在接插件部位，一段不合格的电缆同样会导致串扰的不合格。 　　对这类故障，可以利用HDTDX技术发现它们的位置，无论是在某个接插件还是某一段链路。串绕线对、外部噪声也是产生近端串扰的重要因素。 　　回波损耗是由于链路阻抗不匹配造成的信号反射。它主要发生在连接器的地方，端接工艺不良和链路上产品非同一厂家生产等因素都会引起阻抗不匹配。 　　由于在千兆以太网中用到了双绞线中的四对线同时双向传输（全双工），因此被反射的信号会被误认为是收到的信号而产生混乱。 　　知道了回波损耗产生的原因是由于阻抗变化引起的信号反射，我们就可以利用针对这类故障的HDTDR技术进行精确定位了。 4．FLUKE DTX系列电缆认证测试仪 DTX系列电缆认证测试仪是FLUKE公司2004年推出的新一代铜缆和光缆认证测试平台。 目前有DTX-LT，DTX-1200，DTX-1800三种型号；其测试速度很快，12秒即完成一条6类链路测试；达到IV级认证测试精度；彩色操作界面，操作方便。 双光缆双向双波长认证测试，集成VFL可视故障定位仪；DTX-1800的测试带宽高达900MHz，满足未来7类布线系统测试要求。 图7-27 DTX系列电缆认证测试仪 7.7 光纤测试 　　对光纤测试主要是衰减测试和光缆长度测试，衰减测试就是对光功率损耗的测试，引起光纤链路损耗的原因主要有。 　　①材料原因。光纤纯度不够和材料密度的变化太大。 　　②光缆的弯曲程度。包括安装弯曲和产品制造弯曲问题，光缆对弯曲非常敏感，如果弯曲半径大于2倍的光缆外径，大部分光保留在光缆核心内，单模光缆比多模光缆更敏感。 　　③光缆接合以及连接的耦合损耗。这主要由截面不匹配、间隙损耗、轴心不匹配和角度不匹配造成。 　　④不洁或连接质量不良。低损耗光缆的大敌是不洁净的连接，灰尘阻碍光传输。 　　对已