天线测试大纲介绍.docVIP

第二部分 近场工作区反射电平测试方法 一、测试项目及频率 测试项目 测试频率点 工作区反射电平 1GHz、2GHz、5GHz、10GHz、18GHz、40GHz 二、测试主要仪器设备 仪 器 名 称 型 号 技 术 指 标 合成信号发生器 8257D 250kHz ～ 40GHz 频谱分析仪 E4447A 10Hz ～ 43GHz 低噪声放大器 CB 1.0GHz ～ 40GHz 角锥喇叭天线 HD-100HA20+S 8GHz ～ 12GHz 角锥喇叭天线 HD-140HA20+S 11.9GHz ～ 18GHz 角锥喇叭天线 HD-320HA25+K 26.3GHz ～ 40GHz 角锥喇叭天线 BJ320 26.4GHz ～ 40GHz 双脊喇叭天线 SAS-571 700MHz ～ 18GHz 测试系统控制器 非标 三、近场工作区反射电平测试原理及方法 3.1、近场工作区反射电平测试原理 采用自由空间电压驻波比法测量近场工作区反射电平，测量原理是基于微波暗室中存在有直射信号和反射信号，微波暗室中空间任意一点的场强是直射信号和反射信号的矢量合，在空间形成驻波，驻波数值的大小就反映了微波暗室内反射电平的大小。 图2-1 VSWR法测量原理图 如图2-1所示，当接收天线主瓣对准发射天线时，所接收到的信号为ED。移动接收天线，则接收天线的直射信号ED与反射信号ER的相对相位将会改变，此时接收天线收到的信号幅度将产生波动，如图2-2所示，这一波动反映空间固有驻波，由此即可得到反射电平。 图2-2 暗室空间驻波图 将接收天线转到比最大电平低a（dB）的方位角(时，则所接收的直射信号E(=ED10a/20。当反射信号与直射信号同相时合成场最大，这时以b表示： 式中：ER 接收天线处于方位角(时的等效反射信号 ED 沿室轴照射的直射波场强 a 接收天线处于方位角(时的方向图电平 当反射信号与直射信号反相时合成场最小，这时以c表示： 则反射电平： 因此测出空间驻波曲线和接收天线方向图，就可以计算出微波暗室反射电平。 3.2、测试方法 在近场工作区内针对主反射墙的吸波材料进行特定频段吸收特性的测试。 3.3、测试位置的选取 测试近场工作区反射电平时，发射天线先置于暗室中心轴线上，接收天线置于正对被测墙壁的一个合理位置，并沿两天线轴线移动一段距离进行反射电平的测试。测试位置如图2-3、图2-4所示。 图2-3 近场静区测试位置示意图(俯视图) 图2-4 近场静区测试位置示意图(侧视图) 3.4、测试设备连接示意图 图2-5 测试设备连接示意图 3.5、测试步骤 a）连接好测试系统，按图2-5置发射天线及接收天线于测试位置Ⅰ； b）设置信号源频率为1GHz，输出功率调至合适大小使发射天线辐射信号，接收天线在正对发射天线方向，沿待测行程线移动，并记录接收信号曲线，测试曲线作为这条行程线的参考电平线； c）将接收天线方向朝向被测墙壁吸波材料方向，接收天线沿这条测量行程线移动，并记录空间驻波曲线； d）改变天线极化方式，重复以上步骤a）～c）的测量； e）分别在2GHz、5GHz、10GHz、18GHz、40GHz频率点，重复步骤b）~d），直至完成所有频率点测量； f）改变发射天线及接收天线位置，如图2-3所示，分别至位置Ⅱ、位置Ⅲ，重复上述步骤b）~e）的测量; g）改变发射天线及接收天线高度，如图2-4所示，分别至H2、H3，重复上述步骤b）~f）的测量。 3.6、数据处理 近场工作区反射电平按公式计算： 式中：b-c ：最大驻波的幅值； a:：接收天线在方位角为θ时的方向图电平。 四、近场工作区反射电平测试表格范例 静区H1高度反射电平（单位：dB） 1GHz 2GHz 5GHz 10GHz 18GHz 40GHz I 水平 垂直 II 水平 垂直 III 水平 垂直 静区H2高度反射电平（单位：dB） 1GHz 2GHz 5GHz 10GHz 18GHz 40GHz I 水平 垂直 II 水平 垂直 III 水平 垂直 静区H3高度反射电平（单位：dB） 1GHz 2GHz 5GHz 10GHz 18GHz 40GHz I 水平 垂直 II 水平 垂直 III 水平 垂直 第三部分 远场静区幅度