采用Mult-tap标准单元PGV以获取精准的Power EM违例.pdfVIP

下载本文档

133
0
约1.01万字
约 3页
2017-06-10 发布于北京
举报
版权申诉

采用Mult-tap标准单元PGV以获取精准的Power EM违例.pdf

1、原创力文档（book118）网站文档一经付费（服务费），不意味着购买了该文档的版权，仅供个人/单位学习、研究之用，不得用于商业用途，未经授权，严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等，侵权必究。。
2、本站所有内容均由合作方或网友上传，本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺！文档内容仅供研究参考，付费前请自行鉴别。如您付费，意味着您自己接受本站规则且自行承担风险，本站不退款、不进行额外附加服务；查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档，您可以点击这里二次下载。
3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等，请点击“版权申诉”（推荐），也可以打举报电话：400-050-0827(电话支持时间：9:00-18:30)。
4、该文档为VIP文档，如果想要下载，成为VIP会员后，下载免费。
5、成为VIP后，下载本文档将扣除1次下载权益。下载后，不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
6、成为VIP后，您将拥有八大权益，权益包括：VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
7、VIP文档为合作方或网友上传，每下载1次，网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等，对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档

采用Mult-tap标准单元PGV以获取精准的Power EM违例.pdf

EM违例蔡琰，季昊，施建安 (英伟达半导体科技(上海)有限公司，上海201210) 摘要：电源电子迁移(Power Electromigration，Power Grid 网格分析时，由于在每个标准单元的电源网格视图(Power (t印)，从而流入每个标准单元的电流都聚集到一点。但对于大尺寸标准单元，电流实际上是分布到各个接触孔而非集中到一点，因此PowerEM结果比实际情况悲观很多。本文描述了一种新的方法，即只对在关键路径上使用并具有得PowerEM准确性得到提高。关键词：电源电迁移；电源格点视图；Voltus 中图分类号：TN402 文献标识码：A EM违例【J】．电子技术应用，2016，42 中文引用格式：蔡琰，季吴，施建安．采用Muh—tap标准单元PGV以获取精准的Power (8)：25—27． of standardcellPGVto accurateEM 英文引用格式：CaiYan，JiHao，Shi capture power Jian’an．Applicationmulti-tap ofElectronic Apphcafion Technique，2016，42(8)：25-27． of standardcellPGVto accurateEM Applicationmulti-tap capture power Cai Jian’an Yan，JiHao，Shi 201210，China) (NVIDIA，Shanghai Abstract：Power all rolein Voltusrail Electromigration(EM)checkplays importanthishperformancechipdesign．In Power currentofeachstandardcellclusterstoone sincethereis one extracteddefault standardcell Grid point only tap by during inthereal standard currentdistributestoallcontactsinsteadof to wodd，for cells，the View(PGV)generation．Butlarge clustering Voltus EMresetismuchmore than describesamethodto one．Therefore，the reality．This onlygenerate power pessimistic paper PGVfor clockcellswhi