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【2017年整理】电子测量技术(3版)三2部分
二极管是整流、检波、限幅、钳位等电路中的主要器件。由于功能不同,对二极管的性能参数要求也不相同。
1.半导体二极管的特性和主要参数
(1)二极管的主要特性。二极管最主要的特性是单向导电特性,即二极管正向偏置时导通;反向偏置时截止。
;2.二极管的主要参数
(1)最大整流电流IFM
指管子长期工作时,允许通过的最大正向平均电流。
(2)反向电流IR
指在一定温度条件下,二极管承受了反向工作电压、又没有反向击穿时,其反向电流值。
(3)反向最大工作电压VRM
指管子运行时允许承受的最大反向电压。应小于反向击穿电压。;(4)直流电阻
指二极管两端所加的直流电压与流过它的直流电流之比。良好的二极管的正向电阻约为几十Ω到几kΩ;反向电阻大于几十kΩ到几百kΩ。
(5)交流电阻 r
二极管特性曲线工作点Q附近电压的变化量与相应电流变化量之比。
(6)二极管的极间电容
势垒电容与扩散电容之和称为极间电容。在低频工作时,二极管的极间电容较小,可忽略;在高频工作时,必须考虑其影响。;2.测量原理和常规测试方法
PN结的单向导电性是进行二极管测量的根本依据。
(1)用模拟式万用表测量二极管。对二极管进行检测,主要是鉴别它的正、负极性及其单向导电性能。
① 正、反向电阻的测量。测量时,将二极管与万用表的表笔相接,万用表指示出一个电阻值;将万用表的表笔对换,再接二极管,此次所测得的电阻必然与上次测量结果不相等,其中万用表指示的较小的电阻值为二极管的正向电阻,指示值较大的电阻为二极管的反向电阻。;② 极性的判别。根据二极管正向电阻小、反向电阻大的特点可判别二极管的极性。表笔分别与二极管的两极相连,测出两个阻值,在测得阻值较小的一次测量中,与黑表笔相接的一端为二极管正极,与红表笔相接的一端为二极管负极。
③ 管型的判别。硅二极管的正向压降一般为0.6~0.7V,锗二极管的正向压降一般为0.1~0.3V,通过测量二极管的正向导通电压,就可以判别被测二极管的管型。 ;(2)数字式万用表测量二极管。
实际测量的是二极管的直流压降。
(3)用晶体管图示仪测量二极管。
直接显示二极管的伏安特性曲线。
(4)发光二极管的测量
①用模拟式万用表判别发光二极管
实际测量的也是二极管的直流压降。
② 发光二极管工作电流的测量。 ; 半导体三极管是内部含有两个PN结、外部具有三个电极的半导体器件。
1、三极管的主要参数
(1)直流电流放大系数
定义为集电极直流电流 与基极直流 之比。
(2)交流电流放大系数
三极管在有信号输入时,定义为集电极电流的变化量 与基极电流的变化量 之比。;(3)穿透电流
基极b开路,集电极c与发射极e间加反向电压时的集电极电流。硅管的 在几微安以下。
(4)反向击穿电压
是基极b开路,集电极c与发射极e间的反向击穿电压。
(5)集电极最大允许电流
是 值下降到额定值的1/3时所允许的最大集电极电流。;6.集电极最大允许功耗
是集电极上允许消耗功率的最大值。
;① 基极的判定。利用PN结的单向导电性进行判别。
② 发射极和集电极的判别。判别发射极和集电极的依据是:发射区的杂质浓度比集电区的杂质浓度高,因而三极管正常运用时的β值比倒置运用时要大得多。
;用模拟式万用表,将黑表笔接假设的集电极,红表笔接假设的发射极,在假设集电极(黑表笔)与基极之间接一个100kW左右的电阻,看万用表指示的电阻值,如图3.16(a)所示,然后将红黑表笔对调,仍在黑表笔与基极之间接一个100kW左右的电阻,观察万用表指示的电阻值,如图3.16(b)所示。其中,万用表指示电阻值小表示流过三极管的电流大,即三极管处于正常运用的放大状态,则此时黑表笔所接为集电极,红表笔所接为发射极。;③ 电流放大倍数的估测。将万用表拨到相应电阻挡,按管型将万用表表笔接到对应的极上。测量发射极和集电极之间的电阻,再用手捏着基极和集电极,观察表针摆动幅度的大小。表针摆动越大, 值越大。
(2)用数字万用表测量三极管
直接以数字形式显示测量值。
(3)用晶体管特性图示仪测量三极管;3.3.1 晶体管图示仪的特点(1)广泛性 (2)直观性(3)全面性 (4)精确性;3.3.2晶体管图示仪的工作原理;3.3.3 晶体管图示仪的测试应用;(5)进行ICM的测试时,一般采用单簇为宜,以免损坏被测管。
(6)进行IC或ICM的测试时,应根据集电极电压的实际情况,不应超过仪器规定的最大电流。
(7)进行高压测试时,应特别注意安全,电压应从零逐渐调节到需要值,测试完毕后,应立即将峰值电压调到零。;2.晶体管输出特性曲线的测量
通常用图示仪对输入、输出特性进行测量。图3.18表示了图示仪测量NPN型晶体管输出特性曲线的原理。;例1
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