测控-智能仪表实验指导书.docVIP

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实验一、单片机A/D,D/A接口电路实验 实验项目(一)A/D转换实验 一、实验目的 1.掌握A/ D转换与单片机的接口方法。 2.了解A/ D芯片0809转换性能及编程方法。 3.通过实验了解单片机如何进行数据采集。 二、实验内容 利用实验仪上的0809做A/ D转换实验,实验仪上的W1电位器提供模拟量输入。编制程序,将模拟量转换成数字量,通过二位七段数码管显示器显示。 三、实验说明 A/ D转换器大致分有三类:一是双积分A/ D转换器,优点是精度高,抗干扰性好,价格便宜,但速度慢;二是逐次逼近式A/ D转换器,精度、速度、价格适中;三是并行A/ D转换器,速度快,价格也昂贵。实验用ADC0809属第二类,是8位A/ D转换器。每采集一次一般需100μs。由于ADC0809 A/D转换器转换结束后会自动产生EOC信号(高电平有效),取反后将其与8031的INT0相连,可以用中断方式读取A/ D转换结果。 四、实验接线图 五、实验程序框图 实验参考程序 ORG 06D0H START: MOV A,#00H MOV DPTR,#9000H MOVX @DPTR,A MOV A,#00H MOV SBUF,A MOV SBUF,A MOVX A,@DPTR DISP: MOV R0,A ANL A,#0FH LP: MOV DPTR,#TAB MOVC A,@A+DPTR MOV SBUF,A MOV R7,#0FH H55S:DJNZ R7,H55S MOV A,R0 SWAP A ANL A,#0FH MOVC A,@A+DPTR MOV SBUF,A MOV R7,#0FH H55S1:DJNZ R7,H55S1 LCALL DELAY AJMP START TAB:DB 0fch,60h,0dah,0f2h,66h,0b6h, DB 0beh,0e0h,0feh,0f6h,0eeh, DB3eh,9ch,7ah,9eh,8eh DELAY:MOV R6,#0FFh DELY2:MOV R7,#0FFh DELY1:DJNZ R7,DELY1 DJNZ R6,DELY2 RET END 六、实验步骤 把A/D区0809的0通道IN0用插针线接至W1的中心抽头V01插孔(0—5V)。 0809的CLK插孔与分频输出端T4相连。 3. 将W2的输入VIN接+12V插孔,+12V插孔再连到外置电源的+12上(电源内置时,该线已连好)。调节W2,使VREF端为+5V。 4. 将A/D区的VREF连到W2的输出VREF端。(如果精度要求不高的话,A/D区的VREF直接连到VCC插孔,这样步骤③可以去掉)。 EXIC1上插上74LS02芯片,将有关线路按图连好。 将A/D区D0—D7用排线与BUS2区XD0—XD7相连。 BUS3区P3.0插孔连到数码管显示区DATA插孔。 BUS3区P3.1插孔连到数码管显示区CLK插孔。 单脉冲发生/SP插孔连到数码管显示区CLR插孔。 10. 按实验系统上的F2键,仿真实验仪进入仿真状态(内程序,外数据),显示器显示“P……”。 11. 以连续方式从起始地址06D0运行程序,在数码管上显示当前采集的电压值转换后的数字量,调节W1数码管显示将随着电压变化而相应变化,典型值为0V—00H,2.5V—80H,5V—FFH。 实验项目(二)D/A转换实验 一、实验目的 了解D/A转换与单片机的接口方法。 2.了解D/A转换芯片0832的性能及编程方法。 了解单片机系统中扩展D/A转换芯片的基本方法。 二、实验内容 利用0832输出一个从-5V开始逐渐升到0V再逐渐升至5V,再从5V逐渐降至0V,再降至-5V的锯齿波电压。 三、实验接线图 四、实验程序框图 实验参考程序 ORG 0740H HA6S:MOV SP,#53H HA6S1:MOV R6,#00H HA6S2: MOV DPTR,#8000H MOV A,R6 MOVX @DPTR,A MOV R2,#0BH LCALL DELAY INC R6 CJNE R6,#0FFH,HA6S2 HA6S3: MOV DPTR,#8000H DEC R6 MOV A,R6 MOVX @DPTR,A

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