现代分析测试技术扫描探针显微分析技术.pptVIP

第四章 扫描探针显微分析技术; 20世纪80年代初期，扫描探针显微镜（SPM）因首次在实空间展现了硅表面的原子图像而震动了世界。 从此，SPM在基础表面科学、表面粗糙度分析和从硅原子结构到活体细胞表面微米尺度的突出物的三维成像等学科中发挥着重要的作用。;非接触式原子力显微镜 ;Evaluation only. Created with Aspose.Slides for .NET 3.5 Client Profile 5.2.0.0. Copyright 2004-2011 Aspose Pty Ltd.; 扫描探针显微镜是一类仪器的总称，它们以从原子到微米级别的分辨率研究材料的表面特性。;4.1 扫描隧道显微镜（STM) STM是所有扫描探针显微镜的祖先，它是1981年Gerd Binning和Heinrich Rohrer在苏伊士IBM实验室发明的。 这是第一种能够在实空间获得表面原子结构图像的仪器。;量子隧道效应 ; 由于电子的隧道效应，金属中电子云密度并不在表面边界处突变为零。在金属表面以外，电子云密度呈指数衰减，衰减长度约为1nm。用一个极细的、只有原子线度的金属针尖作为探针，将它与被研究物质(称为样品)的表面作为两个电极，当样品表面与针尖非常靠近(距离＜1nm)时，两者的电子云略有重叠，如图2 所示。;4.1.1