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封装测试技术 先进的芯片尺寸封装(CSP)技术及其发展前景 王振宇,成 立,高 平,史宜巧,祝 俊 (江苏大学电气信息工程学院,江苏 镇江 212013) 摘要:概述了芯片尺寸封装 (CSP)的基本结构和分类,通过与传统封装形式进行对比,指出了 CSP技术具有的突出优点,最后举例说明了它的最新应用,并展望了其发展前景。 关键词:微电子封装技术;芯片尺寸封装;表面组装技术 中图分类号:TN305.94;TN407文献标识码:A 文章编号: ( 212013,China) Abstract: Key words: (接近裸芯片的尺寸),而相对成本却更低,因此 1 引言 符合电子产品小型化的发展潮流,是极具市场竞争 汽车电子装置和其他消费类电子产品的飞速发 力的高密度封装形式。 展,微电子封装技术面临着电子产品“高性价比、 CSP技术的出现为以裸芯片安装为基础的先进 高可靠性、多功能、小型化及低成本”发展趋势 封装技术的发展,如多芯片组件(MCM)、芯片直 带来的挑战和机遇。QFP(四边引脚扁平封装)、 接安装(DCA),注入了新的活力,拓宽了高性能、高 TQFP(塑料四边引脚扁平封装)作为表面安装技 密度封装的研发思路。在MCM技术面临裸芯片难 术(SMT)的主流封装形式一直受到业界的青睐, 以储运、测试、老化筛选等问题时,CSP技术使 但当它们在0.3mm引脚间距极限下进行封装、贴 这种高密度封装设计柳暗花明。 装、焊接更多的I/O引脚的VLSI时遇到了难以克服 2 CSP技术的特点及分类 的困难,尤其是在批量生产的情况下,成品率将大 幅下降。因此以面阵列、球形凸点为 I/O的BGA 2.1 之特点CSP (球栅阵列)应运而生,以它为基础继而又发展为 根据J-STD-012标准的定义,CSP是指封装尺 芯片尺寸封装(Chip Scale Package,简称 CSP) [1] 寸不超过裸芯片1.2倍的一种先进的封装形式 。 技术。采用新型的CSP技术可以确保VLSI在高性 CSP实际上是在原有芯片封装技术尤其是BGA小型 能、高可靠性的前提下实现芯片的最小尺寸封装 化过程中形成的,有人称之为μBGA(微型球栅 基金项目 :江苏省高校自然科学研究基金资助项目 阵列,现在仅将它划为CSP的一种形式),因此 (02KJB510005)。 它自然地具有BGA封装技术的许多优点。 December 200 3 Semiconduct or Technol ogy Vol . 28 N o . 12 39 封装测试技术 (1)封装尺寸小,可满足高密封装 CSP 当今最高效、最先进的高密度封装之一,其技术核 是目前体积最小的VLSI封装之一,引脚数(I/O 心是采用裸芯片安装,优点是无内部芯片封装延迟 数)相同的CSP封装与QFP、BGA尺寸比较情况 及大幅度提高了组件封装密度,因此未来市场令人 [2] 乐观。但它的裸芯片测试、筛选、老化问题至今 见表

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