一款 GEM 探测器读出 ASIC -GEMROC测试平台的设计.pdfVIP

第34卷 第4期 核电子学与探测技术 Vo1．34 No．4 2014年 4月 NuclearElectronics＆DetectionTechnology Apr． 2014 一 款 GEM 探测器读 出ASIC—GEMROC 测试平台的设计 李丹 ，颜永红 ，常劲帆 ，王铮2，王炜 (1．湖南大学物理与微电子科学学院，长沙410082；2．中国科学院高能物理研究所 ，北京 100049) 摘要：主要完成了一款GEM探测器读出ASIC—GEMROC测试平台的设计。在设计中充分考虑了 同类型ASIC的测试需求，进而对插件的功能进行了扩展，使其具有一定的通用性。 关键词：特定用途集成电路；现场可编程门阵列；模数转换器；数模转换器 中图分类号：TL8 文献标志码 ：A 文章编号： 0258-0934(2014)04-0477-03 随着新型探测器的发展，以分立器件为核 1 GEMRoC芯片简介 心的传统电子学在面对高密度、小尺寸的新型 探测器时，其在空间、功耗以及成本等方面的劣 GEMROC芯片是一款 16通道 的 GEM探 势越来越明显。因此，必须采用专用集成电路 测器前端电子学读出的ASIC芯片。其中，每 (ASIC)来解决这一问题。 个通道的组成部分包括电荷灵敏前放 (CSA)、 目前，中国科学院高能物理研究所已自主 带极零相消的积分 网络和模拟缓冲输 出驱 研发出多类型多用途的ASIC芯片，主要包括 动nJ，如图1所示。芯片设计的关键技术指标： 密集型阵列探测器前端读出芯片、多通道电荷 增益为 ～5mV／fC，可调；线性范围为最大200 灵敏前放芯片、逐次比较型 ADC芯片、GEM探 fC，非线性 1％。 测器读出芯片GEMROC等。当每款ASIC设计 完成后，都要对芯片本身的性能进行测试。由 于专用的飞针式测试平台价格十分昂贵，所以 每款芯片基本都是利用信号发生器、示波器、 FPGA开发板等仪器搭建一个简单的测试平 台，由于需要针对每款芯片设计测试平台所需 图1 单通道结构图 的PCB，因此测试效率低，有时测试精度也无法 2 系统设计与实现 满足测试需求。因此，为了提高测试效率，本文 设计了一款通用的ASIC测试平台，设计完成 由于GEMROC是一款基于电荷灵敏前放 后对GEMROC芯片的基本性能进行了测试，验 和CR—RC积分成形网络的电荷测量芯片，其 证测试平台的可用性。 输出信号的峰值正比于输入电荷量，为保证足 够的测量精度，便于多通道同时测量，因此选用 了8通道，12bit，40MHz采样频率的商用ADC 收稿 日期：2014一o2—18 作者简介：李丹(1988一)，女，辽宁朝阳人，硕士研究 芯片AD9222对其输出波形进行采样，同时配 生．主要研究方向为集成电路工程。 合FPGA完成寻峰等操作。考虑到基于Wil一 477 设计的要求。 目 鹫 田簿u《0 ； { ； ； { l —nV 姗咖啪鲫枷瑚o