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封装测试技术 IC T Package Test Technology S IC测试原理-存储器和逻辑芯片的测试 许伟达 （科利登系统有限公司） 1 存储器芯片测试 大允许时间间隔。 建立时间(Setup Time)：输入数据电平在锁存 存储器芯片是在特定条件下用来存储数字信息 时钟之前必须稳定保持的时间间隔。 的芯片。存储的信息可以是操作代码，数据文件或 速度(Speed)：功能速度测试是通过重复地进 者是二者的结合。根据特性的不同，存储器可以分 行功能测试，同时改变芯片测试的周期或频率来完 为以下几类，如表 1所示。