与器件性能表征实验教材案例.docVIP

第二部分 材料与器件性能表征 (36学时) 实验要求 通过完成以下九个实验，掌握半导体材料和器件性能的表征方法及基本的实验技能，培养分析问题和解决问题的能力。 目 录 实验一. 双极型晶体管特性的测量与分析 实验二. 场效应晶体管特性的测量与分析 实验三. 硅光电器件管芯特性的测量与分析 实验四. 硅材料电阻率及扩散薄层电阻的测量 实验五. 硅光电池光照特性的测量与分析 实验六. 功率晶体管热参数的测量 实验七. 硅光电器件光谱响应特性的测量 实验八. 单晶体的激光定向及材料缺陷的显示与观察 实验九. 用椭偏仪测量透明介质薄膜的厚度和折射率 实 验 卡 片 实验一 双极型晶体管特性的测量与分析 实验要求 1．弄清双极型晶体管主要参数的物理意义和使用Keithley4200半导体参数分析仪的基本方法。 2．测试样品为3AX31和3DG6，弄清这两类器件的类型和引脚，任选一只按共发射极接法进行测量。 3．测量该晶体管的输入特性曲线，并根据