电子产品ESD设计精讲.ppt

电子产品的静电放电危害、测试及其对策 中国赛宝（总部）实验室 （中国电子产品可靠性与环境实验研究所） 安全与电磁兼容检测中心：朱文立 0. 前言 静电是人们日常生活中一种司空见惯的现象； 静电的许多功能已经应用到军工或民用产品中： 如：静电除尘、静电喷涂、静电分离、静电复印等。 静电放电（ESD）却又成为电子产品和设备的一种危害，造成电子产品和设备的功能紊乱甚至部件损坏。 一个操作员在正常的设备操作中也可能因衣服或皮肤带有危害的电荷而使机器运行紊乱，甚至损坏硬件设备。 0. 前言（续一） 现代半导体器件的规模越来越大，工作电压越来越低，导致了半导体器件对外界电磁骚扰敏感程度也大大提高。 ESD对于电路引起的干扰、对元器件、CMOS电路及接口电路造成的破坏等问题越来越引起人们的重视。 电子设备的ESD也开始作为电磁兼容性测试的一项重要内容写入国家标准和国际标准。 下面就ESD的形成机理、对电子产品的危害及ESD敏感度测试、电路设计对策等与大家共同探讨。 一、静电放电（ESD）机理及其危害 静电是两种介电系数不同的物质磨擦时，正负极性的电荷分别积累在两个物体上而形成： 当两个物体接触时，其中一个趋于从另一个吸引电子，因而二者会形成不同的充电电位。 摩擦起电是机械过程，依靠相对表面移动传送电量。 传送的电量取决于接触的次数、表面粗糙度、湿度、