UT-2级超声波检测基本知识试卷.ppt

超声波横波探伤深度定位 四、仪器探头试块 1、仪器 按缺陷的显示方式分为A 型B型还有C型，普遍使用A型显示。 仪器上荧光屏横轴表示超声波在工件中传播的时间，纵轴表示反射体反射回来的声压大小，可以比较缺陷的大小。为使进入放大器中的信号在一定范围，仪器上有一衰减器。 目前主要有两类, 早期的是模拟机,现在许多单位有数字机。 仪器显示方式 仪器的主要性能指标（含与探头后）： 水平线性 、垂直线性、灵敏度、盲区、始脉冲宽度、分辨力等 四、仪器探头试块 2、探头 根据波型，探头可分为有纵波探头、横波探头、表面波探头、板波探头等。根据波束可以分为聚焦探头与非聚焦探头。根据晶片数可分为单晶片、双晶片。常用的主要是直探头与斜探头 四、仪器探头试块 （1）直探头结构 主要有压电晶片 、保护膜、电缆线、阻尼块、外壳、接头。 阻尼块的作用是：晶片在受激励振荡后立即停下来，使脉冲宽度变小，分辨力提高。吸收背面的杂波，支撑固定晶片。 探头的主要参数有：晶片材料、直径、频率、保护膜如PZT2.5Φ20 四、仪器探头试块 （2）斜探头结构 主要有压电晶片 、斜楔、电缆线、阻尼块、吸声材料、外壳、接头。 斜楔的作用是实现波型转换,使被探工件中只存在折射横波。斜楔的纵波声速必须小于工件中的纵波波速,要耐磨、易加工,对超声波的衰减系数小。 探头的主要参数有： 晶片尺寸、频率、K值 如2.5P 13×13K2 3、试块 按一用途设计制作的具有简单人工几何反射体的试样。 （1）作用 a 确定探伤灵敏度； b 测试仪器和探头的一些重要性能如放大线性、水平线 性、动态范围、灵敏度余量、分辨力、盲区、探头入射点、K值等 ；c 调时间扫描线比例 C 评判缺陷的大小 （2）分类 一类是由权威机构制定的试块，称为标准试块如CSK-IA 一类是按具体探伤对象制定的试块，如CSK-IIIA、CS-1 四、仪器探头试块 四、仪器探头试块 CSK-IA 四、仪器探头试块 CSK-IIIA 四、仪器探头试块 CSK-IIA CSK-IVA 四、仪器探头试块 平底孔试块 五、影响探伤结果的因素 1）仪器与探头组合性能 垂直线性－－会影响缺陷当量大小判定 水平线性－－影响缺陷定位，非缺陷波的识别 盲区－－影响近表面的缺陷的检测 2）探头 频率－－理论上能够发现的最小缺陷是波长的1/2，在能保证穿透的前提下，选高一些频率 直径－－直径大，发射功率大，能探厚度大的工件，工作 效率高，但近场区长度增加，近场区内易漏缺陷，波高不稳。 K值－－根据厚度和焊缝宽度选择，应一次波越过背面对过焊缝边缘，薄板选大一些，厚板选小一些，保证扫查到整个面。 五、影响探伤结果的因素 a 五）影响探伤结果的因素 3）耦合 超声波探伤时在探头与工件之间如存在空气，由于空气声阻抗比较大，超声波不能被导入工件，必须使用一种液体消除间隙，在探头与件之间起透声的作用，这就是耦合剂。 耦合剂－－应选用声阻抗（密度与声速乘积）比较大的，常用的有机油、水玻 璃、甘油、水、化学浆糊 耦合层厚度－－理论上耦合层厚度为波长1/2的整数倍时透声效果最好，耦合层厚度为波长的1/4的奇数倍时透声效果最差，实际工作中一般尽可能使耦合层薄一些。 工件表面粗糙影响，要求工件表面的粗糙度不高于6.3μm 五、影响探伤结果的因素 4)探伤灵敏度 灵敏度选择过高时探伤时反射的杂波太多,影响缺陷波的识别,灵敏度过低时会漏掉缺陷。 5）仪器时间扫描线调试的正确性，斜探头K值测试的正确性会影响缺陷的定位或对非缺陷信号的判别。 6）手工探伤时探头的移动速度过快，缺陷波显示不够亮，易漏掉缺陷。 第九章 超声波检测基础知识 第九章、超声检测 一、超声波的性质 1、声波 次声波 超声波 声波、次声波、超声波都是机械波，有声速、频率、波长、声压、声强等参数，在界面也会发生反射 、折射 。 我们能够听到声音是因为声波传 到了我们的耳内，声波的频 率在20HZ～20000HZ，频率低于或超过上述范围时人们无 法听到声音，频率低于20HZ的声波称为次声波，频率超过 20000HZ的声波称为超声波。 工业探伤上常用的超声波范围是：0.5～20MHz ;其中金属 探伤最常用的频率是：1～5MHz；探水泥构建用的频率 是： 0.5MHz,如100KHz,200KHz; 探测玻璃陶瓷中μm级 小缺陷用的频率是100MHz～200MHz,甚至更高。 一、超声波的性质 2、超声波的特点 （1）有良好的指向性： （2）能量高 由于能量（声强）与频率的平方成正比，故超声波的 能量远大于声波的能量 I1/I2=1MHz2/1KHz2=100万倍。 一、超声波的性质 （3）能像光线一样呈直线传播，并在界面上产生反射、折射和波型转换，在传播过程中还有干涉、叠加、绕射现象，故