TEM 原位样品加热系统.PDF

1 TEM原位样品加热系统 商品描述：荷兰DENSsolutions公司提供全球领先的透射电镜 （TEM）样品管理解决方案，为客户提供快 捷、可靠的纳米尺度原位显微工具。 其应用领域包含：纳米材料原位加热研究、碳基纳米材料无损成像、 金属结构、催化剂、陶瓷原位加热研究等。产品包括TEM样品加热 系统和MEMS样品加热芯片。 产品特点：  加热样品的同时保证超高分辨率  最优的机械与温度稳定性  准确、迅速的温度控制  简便的制样过程 技术指标：  温度范围：室温至800℃(最高1200℃)  温度准确性：优于10%  温度稳定性：优于0.05℃  温度建立时间：5秒（300℃温度变化）  样品位移：1nm/min @ 800℃ -3  转移真空度：10 mbar （真空转移型） 产品系列：  SH30单倾斜±30°  DH30双倾斜±30°  SH70单倾斜±70°  VSH真空转移型  MEMS原位样品加热芯片 2 MEMS样品加热芯片  加热温度高达1200℃  利用MEMS工艺制造，加热所需功率极小  保证TEM分辨率  提供客户定制，满足特殊需求 配置 完整的产品包主要包括：  加热型样品杆和支架  MEMS样品加热芯片  温度控制器  笔记本电脑和控制软件 应用案例 案例1 高温下纳米颗粒的高分辨率成像 使用TEM观察7nm的单个金纳米颗粒在450℃下的高分辨像，如右图所 示。实验设备：DENSsolutionsSH30单倾斜样品加热系统、FEITitan 像差矫正型TEM。 （N.P. Young, M.A. van Huis,H.W. Zandbergen, H.Xu, A.I. Kirkland,Ultramicroscopy, 2010,110(5), 506-516） 案例2 无损伤的碳基软物质成像： DENSsolutionsSH30单倾斜样品加热系统为碳纳米管、石墨烯等碳基 材料无损伤成像提供了可能。右图中为单层石墨烯的STEM 图像，由 于石墨烯在高温下存在自修复效应，800℃下对石墨烯进行电子显微 观察能够完全避免电子束对石墨烯造成的损伤。 3 案例3 获取CuAu有序-无序相的高分辨图像 3 利用DENSsolutionsDH30样品加热系统能够直接研究材料的高温结构， 为理解不同温度下的材料性质提供了机会。CuAu从有序相到无序相的3 转变温度为390℃，利用DH30和FEITitan，获取CuAu有序相 （40℃）3 和无序相（400℃）的图像（沿110晶带轴）如右图所示。 裕隆时代，愿和您一起携手，共创美好未来！ 地 址： 北京海淀区马甸月季 12号6301室 100088 电 话： 010 传 真： 010 Q Q: 9275 30237 电子邮箱： guo_sem@163.com bj_yulong@163.com 网 址：