现场X射线荧光分析技术-岩矿测试.PDFVIP

２０１３年４月 岩　矿　测　试 Ｖｏｌ．３２，Ｎｏ．２ Ａｐｒｉｌ２０１３ ＲＯＣＫＡＮＤＭＩＮＥＲＡＬＡＮＡＬＹＳＩＳ ２０３～２１２ 文章编号：０２５４ ５３５７（２０１３）０２ ０２０３ １０ 现场 Ｘ射线荧光分析技术 葛良全 （成都理工大学“地学核技术”四川省重点实验室，四川 成都　６１００５９） 摘要：本文从携带式Ｘ射线荧光仪器、现场分析技术和技术应用三方面论 述了现场Ｘ射线荧光分析技术的进展。从 Ｘ射线激发源、Ｘ射线探测器 和电子线路单元等角度，将携带式Ｘ射线荧光仪划分为四代，即以放射性 同位源为激发源、以ＮａＩ（Ｔｌ）闪烁计数器为Ｘ射线探测器为技术特征的第 一代仪器；以放射性同位素源和正比计数器为技术特征的第二代仪器；以 放射性同位素、电制冷半导体探测器和以嵌入式微处理器为控制核心的多 道脉冲幅度分析器为技术特征的第三代仪器；以低功率微型Ｘ射线发生 器为激发源、电制冷半导体探测器和全数字化Ｘ射线能谱采集器为技术 特征的第四代仪器。在现场分析技术方法方面，论述了Ｘ射线仪器谱解 析技术、基体效应校正技术和现场原位分析中不平度效应、湿度效应、荧光颗粒不均匀效应校正技