触摸屏TP可靠性试验通用标准A1.docVIP

※ ※ 目录 Index ※ ※ 序号 Item 内容 Contents 页 Page 1 目的 2 2 适用范围 2 3 参考文件 2 4 测试设备 2 5 2 6 抽检方法及计划 2-3 7 测试要求 3-5 ※ ※ 修改记录 REVISION RECORD ※ ※ 版次/修改号Rev. 修 改 内 容 REVISION CONTENTS 修改人INITIATED 日期Date A/0 /1 / / / / 拟定 INITIATED 审核 CHECKED 批准 APPROVED 文件生效日期Inure Date： BY DATE 1 目的规范对生TP产品，，监控工艺和品质的稳定性，及时发现品质缺陷重点改善，以满足客户和设计对产品品质的要求。2 适用范围 3 参考文件 3.1 国际电工委员会IEC60068-2环境试验及中华人民共和国国家标准GB/T2423《电工电子产品环境试验》系列标准； 3.2 本公司产品设计规范及客户对产品的规格要求等相关文件3.3 客户有特殊试验或测试要求时，先选用客户测试标准，但如客户标准严酷等级低于此标准，则依此标准执行 4 测试设备 试验设备：高温验箱、低温试验箱、冷热冲击箱、恒温恒湿箱、跌落试验机、振动试验机、表面静压、打点机、划线机、铅笔硬度计等 6 抽方法及计划 6.1 抽对象:TP生产车间计划内，以工艺生产出货的TP产品。 6.1.1 样品阶段： 6.1.1.1 每款型号必须进行7.1必行试验项目的测试（不包括包装震动试验项目）以及7.2选行项目中的高温保存(240H)、低温保存(240H)、高温高湿保存(240H)试验； 6.1.1.2 每款每次抽样数量：44PCS（不包括相关工程师特殊要求的测试项目数量）；； 6.1.3 量产6.1.4 重要客户型号的产品： 6.1.4.1 重要客户的型号产品必须进行7.1必行试验项目以及7.2选行试验项目； 6.1.4.2 每款抽样数量：根据打样情况抽取。 7 测试序号 测试项目 测试条件 抽样数量 备注 A-1 高温保存80+/-3℃ 120H 5pcs 试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG 外观不良线性良品 A-2 低温保存-40+/-3℃ 120H 5pcs 试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG 外观不良线性良品 A-3 高温高湿保存60+/-3℃ 90+/-3%RH 120H 5pcs 试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG 外观不良线性良品 A-4 冷热冲击保存-40℃ 30min→80℃ 30min 10cycle 5pcs 试验后样品在周围环境放置24H,测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG 外观不良线性良品（可与反应时间共用） A-5 打点试验 150g 频率：3次/1秒 100万次2pcs 测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG 外观不良线性良品（但外观不可有裂纹等） A-6 划线试验 150g 速度：60mm/秒 10万次2pcs 测试线性值≤1.5%,绝缘阻抗≥20MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG 外观不良线性良品（但外观不可有裂纹等）每2万次换一次笔头 A-7 表面硬度 500g 5pcs ≥3H 外观、线性不良品 A-8 反应时间 DC 5V5pcs ≤10ms 外观不良线性良品（可与冷热冲击保存共用） A-9 包装震动 10-55HZ 0.75mm 1H 120MΩ，回路电阻在工艺要求范围内为OK，若超出工艺范围且电阻变化率≥20%为NG 本试验项目只针对量产品 7.2 选行试验项目 对于TP厂生产的产品，可选择进行以下试验项目；除个别客户特殊要求以外，以下试验项目不作为对TP厂生产的TP成品可靠性的最终评价，仅作为TP厂内部试验对产品的评估参考。 序号 测试项目 测试条件 抽样数量 备注 B-1 高温保存80+/-3℃ 240H 5pcs 试验后样品在周围环境放置24H