光的干涉测量薄膜厚度.pptVIP

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  • 2017-06-27 发布于北京
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实验.测量1A薄膜厚度 一,实验目的:测量1A薄膜的厚度 二,实验工具:迈克尔逊干涉仪,厚度未知折射率为n的透明薄膜 三,实验原理:利用试验时两条光路的光程差 和试验时条纹前后条纹移动数N条。最后利用公式: n(D-d)=N人 四,实验内容及步骤 1。使用前仪器的调节 (一)调整迈克尔逊干涉仪,观察非定域干涉、等倾干涉的条纹 ① 对照实物和讲义,熟悉仪器的结构和各旋钮的作用; ② 点燃He—Ne激光器,使激光大致垂直M1。这时在屏上出现两排小亮点,调节M1和M2背面的三个螺钉,使反射光和入射光基本重合(两排亮点中最亮的点重合且与入射光基本重合)。这时,M1 和M2大致互相垂直,即M1/、M2大致互相平行。 ③ 在光路上放入一扩束物镜组,它的作用是将一束激光汇聚成一个点光源,调节扩束物镜组的高低、左右位置使扩束后的激光完全照射在分光板G1上。这时在观察屏上就可以观察到干涉条纹(如完全没有,请重复上面步骤)再调节M1下面的两个微调螺丝使M1/、M2更加平行,屏上就会出现非定域的同心圆条纹。 2.将薄膜放入光路进行实验 设厚度为e,折射率为n,把薄膜放到其中一条光路上,光经过薄膜,光程差改变2(n-1)e,再数出并记下实验前后干涉条纹移动条数k 再利用公式:2(n-1)e=kλ 进行计算 记下实验结果 数据处理 【

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