XUV 773产品简介.PDF

® ® FISCHERSCOPE X-RAY XUV FISCHERSCOPE X-RAY XUV仪器配有一个可抽真 采用不同的准直器和基本滤片组合，能够保证每 空的大型测量箱。其所装备的大面积硅漂移探测 一次的测量都在最佳的条件下完成。在测量的同 器能够探测低至1 keV的荧光辐射能量，从而能 时，可以直观地查看测量点的影像。仪器测量空 够有效地测量元素N 、M以及元素Zn 、Cu 、Ni 间宽大，样品放置便捷，配合可编程的XYZ轴工 从上往下测量 的L辐射。大孔径准直器的使用大幅提高了信号 作台，既适合测量平面、大型板材类样品，也适 计数率，使仪器可以达到极小的重复精度和极低 合形状复杂的样品。并且使得连续测量分析镀层 的测量下限。XUV非常适合测量极薄的镀层和痕 厚度或元素分析也变得直观而简单。仪器配有一 量分析。 个激光定位点作为辅助定位装置，进一步方便了 样品的快速定位。 土壤标本、灰质样本、矿物 宝石:阵列 Al O , SiO 2 3 2 28 X-RAY 系列概览 基于仪器的通用设计以及真空测量箱所带来的扩展的 测量能力，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不仅可用 特征 于研究和开发，也非常适合过程控制和实验室使用。 带铍窗口的微聚焦X射线铑管，可选钨管 和钼管。最高工作条件：50 kV, 50W X射线探测器采用珀尔帖致冷的硅漂移 应用实例 探测器 准直器：4个，可自动切换，从直径 种类、来源和真实性，是评估宝石价值的本质 0.1mm到3mm 特征；而宝石材质的分析结果则是影响判断 基本滤片：6个，可自动切换 的决定性因素。通常，宝石的主要成份是铝 可编程XYZ工作台 和硅的氧化物，还会伴随有镁和钠等元素。 摄像头用来查看基本射线轴向方向的测量 另外，Cr 、Fe 、G 等微量元素也是很重要 位置。刻度线经过校准，显示实际测量点 的。XUV可以分析所有必要元素的光谱图。 大小。 可在真空，空气或者氦气的环境下工作 在多个领域的应用中，非常薄的Al镀层、Si镀 层、氧化铝镀层和氧化硅镀层正在变得原来越重 典型应用领域 要。在真空环境中镀层厚度的测量结果有显著的 测量轻元素 镀层厚度 提高。使用XUV来测量这些镀层，重复精度仅几 测量超薄镀层和痕量分析 个纳米。 常规金属分析鉴定