RFIC芯片的测试与设计验证.pdfVIP

数字/ 模拟电路 范海鹃等 :RF IC 芯片的测试与设计验证 RFIC 芯片的测试与设计验证 1 ,2 1 1 1 ,2 范海鹃 ,王志功 ,周建冲 ,李智群 ( 1. 东南大学 射频与光电集成电路研究所 　江苏 南京 　2 10096 ;2 . 东南大学 集成电路学院　江苏 南京 　2 10096) ( ) 摘 　要 :射频芯片 RFIC 的性能极易受到键合线 、外围元件与电路等片外因素的影响 ,通常一款商用射频芯片的设计需 要经过从初始芯片设计 、芯片测试验证 、修正芯片设计的多轮反复过程 。因此射频芯片在设计时就需要对 IC 电路 、键合和片 外元件电路进行综合考虑 。根据这一特点 ,结合相关芯片的实践经验 ,讨论射频芯片测试与验证的一般方法和经验技巧 ,对 RF IC 的设计具有实用价值 。 关键词 :