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每月主题 微处理器测试和可靠性面临的挑战 客座编辑导言 • 2013 年12 月 塞西莉亚•梅特拉，博洛尼亚大学 微电子技术的特征尺寸在按照摩尔定律不断缩小，使得微处理器的性能和复 杂性不断提高，从而为几年前还不敢想象的创新应用铺平了道路。然而，这也给 高性能微处理器的测试和可靠性提出了新挑战。“今日计算”十二月的主题将探 讨其中的一些挑战以及相应的解决方案。 新时期的挑战 特征尺寸的缩小增加了制造过程中出现缺陷和参数发生变化的可能性，从而 给测试带来了新挑战。传统的测试技术，比如老化测试，因为功率和电压的限制 变得越来越困难，而且有可能很快无效或不可行。老化测试可以激活那些在电路 运行的第一年发生的故障，这一效用限度加上晶体管栅极绝缘膜变薄正在使“多 年现象（aging phenomena ）”日益彰显，从而影响电路正常运行，加大可靠性 风险。特别地，负偏置温度不稳定性（negative-bias temperature-instability ， NBTI ）正在成为一个主要问题。 NBTI 是指PMOS （ P 沟道金属氧化物半导体） 晶体管阈值电压的绝对值发生了正偏移，主要是由于晶体管在强反型中被偏置时 产生了正电界面陷阱。其结果是，电路性能劣化，相应区域的系统运行随之可能 不正常。 另外，特征尺寸减小，加之电源电压和噪声容限的降低，使得集成电路更容 易受到环境诱发故障的影响，例如，因为粒子冲击（例如α粒子和中子）引起的 瞬时故障。当瞬时故障影响到采样元件或传播到采样单元的输入端并被锁存，就 可能会产生输出逻辑错误，这就是通常所谓的软错误（soft error ）。 还有，系统复杂性的提高加上晶体管导通阈值的降低使得功耗及其管理成为 一个严重问题。电源噪声的不确定性增加，越来越难以确定系统在受限功耗条件 下正确运行（即没有可靠性风险）的最小电源电压值。过去50 年，为确保航天、 军事、汽车、医疗、银行等领域关键任务应用中集成电路的可靠运行，已经提出 了好几种方法，但是把这些方法直接引入主流应用并不可行，其中成本是一个重 要因素。因此，创新的、低成本的分析、建模、测试和设计方法都需要直面高性 能微处理器遇到的测试和可靠性挑战。 ⽂章 本月主题选择的六篇文章从理论和实践角度为高性能微处理器的创新性测 试方法、可靠性分析和提升技术提供了一个全面参考。 开篇文章《时钟故障检测的可测性方法的新设计》是我和Martin Omaña、 T.M. Mak 和Simon Tam 共同撰写的，提出的方法能够识别一种在制造过程中产 生的故障，这种故障影响高性能微处理器中时钟分配网络的信号传递，从而妨碍 可靠运行。其他研究人员已经证明，传统的测试策略不能确保检测到此类故障， 但我们发现，通过简单修改高性能微处理器中的常规时钟缓冲器，可以强制时钟 故障变成“时钟固定故障”（使时钟信号恒等于 Vdd 或接地）。还提出通过对 时钟缓冲器进行更多修改，能够在加工后进行校准，以补偿生产过程中引入的参 数变化。所提出的方法适用于全局和局部时钟缓冲器，这意味着只需小幅增加时 钟缓冲器的面积和功耗，对微处理器的性能或现场运作不带来额外测试成本或影 响。 在《用于测试处理器电压波动的自动Stressmark 生成》中， Youngtaek Kim 和他的同事分析了本领域的电源管理问题。微处理器正常运作过程中，运行不同 代码片段会引起电流变化，从而导致电压波动，这正是这篇文章所关注的。为了 评估最近的多核64 位x86 处理器对上述电压波动的敏感性，文章提出了一种自 动生成合适基准的方法。 接下来，Charles R. Lefurgy 和他的同事对本领域的电源管理问题提出了一种 解决方案。《面向节能和可靠性维持的 Power7+主动防护频带管理》提出了一 种在低温和低活跃运行期间调整处理器电压容限的方法，从而能够在确保高活跃 期间可靠操作（在性能约束条件下）的同时降低能耗。负载差异会引起温度和电 压变化，测试偏差和年限也有影响，因此他们通过调节电压容限来跟踪负载的需 求。作者在采用Power7 和Power7+芯片的原型系统上对所提出的方法进行了验 证（相关引用可见论文），结果显示了对能源-效率运作的有效性。 Alessandro Savino 及其同事的《基于微处理器的系统的统计可靠性评估》