AFM原子力显微镜.ppt

The lateral torque or twisting of the cantilever during scanning is monitored to detect relative differences in friction The cantilever deflection amplitude is monitored to determine relative variations in elasticity and stiffness Force Modulation Image of Triblock Copolymer The phase lag between cantilever oscillation and oscillation signal sent to the piezo driving the cantilever are monitored to map materials differences, such as adhesion and viscoelasticity Contact Mode(接触式） ----LFM（横向力显微镜） AFM工作模式 ----NonContact Mode(非接触式） 在非接触模式中，针尖在样品表面的上方振动，始终不与样品接触，探测器检测的是范德华作用力和静电力等对成像样品没有破坏的长程作用力。 当针尖和样品之间的距离较长时，分辨率要比接触模式和轻敲模式都低。这种模式的操作相对较难，通常不适用于在液体中成像，在生物中的应用也很少。 NonContact Mode(非接触式） ----EFM(电场力显微镜） 电场力模式下的饱和三极管图像 NonContact Mode(非接触式） ----MFM(磁场力显微镜） High frequency data tracks overwritten with low frequency periodic signal Height Frequency 25μm scan NonContact Mode(非接触式） ----MFM(磁场力显微镜） The poles, shields, and MR sensor can be identified easily in the MFM image 15μm scan NonContact Mode(非接触式） ----MFM(磁场力显微镜） NonContact Mode(非接触式） ----MFM(磁场力显微镜） NonContact Mode(非接触式） ----MFM(磁场力显微镜） AFM工作模式 ----Tapping Mode(半接触式） 空气中的自由震荡 样品表面的减幅震荡 轻敲模式的分辨率和接触模式一样好，而且由于接触时间非常短暂，针尖与样品的相互作用力很小，通常为1皮牛顿（pN）-1纳牛顿（nN），剪切力引起的分辨率的降低和对样品的破坏几乎消失，所以适用于对生物大分子、聚合物等软样品进行成像研究。对于一些与基底结合不牢固的样品，轻敲模式与接触模式相比，很大程度地降低了针尖对表面结构的“搬运效应”。 Tapping Mode(半接触式） ----Force Modulation(力调制） Tapping Mode(半接触式） ----Force Modulation(力调制） Measured simultaneously during TappingMode imaging Tapping Mode(半接触式） ---- Phase Imaging(相位成像） Lignin component appears bright in phase image Phase image highlights cellulose microfibrils Height Phase 3μm scan Tapping Mode(半接触式）