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晶闸管弊病剖析
可控硅常见故障及分析;一、可控硅故障类型 可控硅有单向和双向可控硅，我们讨论的是双向可控硅;二、各类故障分析 ;全断路：
焊机没有电气通
路，变压器无电
流，焊机不能进行
焊接，控制箱有报
警指示，用万用
表测量可控硅两个
主电极为断路。;半击穿：
R=0；通过变压器是直
流电，变压器空载电流
急剧增大，变压器声音
明显变大，并且有明显的
震动，即使有冷却水，变
压器也会烧毁，用万用表
测量可控硅主电极是导通
的；
R=0，也会产生上述现
象，但用万用表较难判断，
只有听变压器空载声音判
断，判断方法同上。;不触发：
可控硅不触发，是指可控硅主电极用万
用表测试双向不通，而可控硅不工作，
可控硅触发极的电阻几十Ω，如果测得
的数据偏差太大，可怀疑触发极有问题。
;可控硅漏电：
完好的可控硅在额定工作电压下是不???电
的，发生漏电说明可控硅本身状况开始恶
化。可控硅漏电分为两种情况，一种是可控
硅本身漏电，另一种是冷却回路造成的漏电
（指管式冷却）。漏电可能造成焊钳对地打
火，焊钳麻手状况，这种现象容易和接地不
良混淆，排除方法是先易后难，即先查接地
后查可控硅。
;几点说明：;可控硅在全导通时用万用表测量是最准确的，可以断定损坏。所以如果可控硅不属于全导通损坏，我们经常拿到测试台上试验鉴别；
现场我们判断可控硅好坏，多数不是用万用表鉴别，而是根据焊机其他表现断定可控硅损坏可能性，然后换一个新的试一试。
以焊机其他表现断定可控硅，就是以上介绍的内容；
可控硅入厂试验分耐压试验和温升试验，
;耐压试验：
1600V可控硅试验电压2000V DC，泄露小于3mA；1200V可控硅试验电压1500V DC，泄露小于3mA；
温升试验是给可控硅按额定电流通电3小时，再进行耐压试验，以判定可控硅性能。
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