射线检测方法试卷.pptVIP

J1类：包括超微粒胶片和微粒胶片两种，超微粒胶片照相速度最慢，用铅屏增感适用于特别重要的零部件 J2类：细颗粒胶片，照相速度比较快，一般采用金属增感屏，满足灵敏度要求时也可采用荧光增感屏，适用于一般零部件 J3类：粗颗粒胶片，照相速度快，适用于需要感光速度快，照相质量要求不高的零部件 3-2-4 散乱射线的遮蔽与曝光曲线 (1) 散乱射线的遮蔽 照射到胶片上的射线不仅是有用的透过线，还有一些散乱射线也使胶片曝光。 由于散乱射线的曝光会使底片增加黑度，降低衬度，降低了底片的质量和灵敏度，因此在射线照相中应尽可能遮蔽有害的散乱射线。 散乱射线是由于X射线透过工件时，会产生弹性散射和康普顿散射，也会产生二次X射线等。 当胶片与被检工件不紧贴在一起时，来自胶片前方的散乱射线的影响更为严重。 另外在射线照相时，各种障碍产生的乱反射也会从胶片的后方或侧面来影响底片质量。 在一般情况下，胶片应尽可能与工件贴紧，这不仅可以提高影象清晰度，而且可以减少前方和侧面散乱射线的照射。 常用铅板来遮蔽散乱射线，一般X射线照相用遮蔽散乱射线的铅板厚度为3～4mm 应采用铅窗口、光栏或圆锥铅筒控制射线源放出的射线束，减少照射范围，使X射线尽可能只照射在被透照位置上，以减少乱反射的影响。 为了检查背面铅板对后方散乱射线遮挡是否可靠，在胶片暗盒背面附置一个特殊标记(l.6mm厚和13mm高的铅字B)，以正常方式摄取照片。 如果照片较黑背景上出现该标记的淡影象，说明背散射防护不足，必须采取其它预防措施。 采用增感屏来遮蔽散乱射线效果明显，根据不同射线源来选用不同材料和厚度的增感屏，具体关系如表所示。 (2) 曝光曲线 曝光曲线是反映被检工件厚度、管电压与曝光量(管电流与曝光时间乘积)三者之间关系曲线 根据曝光曲线可以针对不同厚度工件选用不同的管电压、管电流和透照时间进行透照，以保证底片质量。 一条曝光曲线一般仅适用于一定条件，当条件改变时，就需另外制作曝光曲线。 制作曝光曲线时应固定一些影响底片黑度和灵敏度的因素，如被检工件材质、X射线机型号、胶片种类、增感屏类型、透照条件、显影和定影条件等。 获得一张质量符合要求的射线底片，必须从各个方面来保证射线照相的灵敏度。 影响照相灵敏度的因素可总结如图 人有了知识，就会具备各种分析能力， 明辨是非的能力。 所以我们要勤恳读书，广泛阅读， 古人说“书中自有黄金屋。 ”通过阅读科技书籍，我们能丰富知识， 培养逻辑思维能力； 通过阅读文学作品，我们能提高文学鉴赏水平， 培养文学情趣； 通过阅读报刊，我们能增长见识，扩大自己的知识面。 有许多书籍还能培养我们的道德情操， 给我们巨大的精神力量， 鼓舞我们前进。 * 可按下式计算半影宽度 式中d-射源尺寸 b-工件厚度 f-透照焦距 工件厚度b一定时，欲减小半影宽度Ug，主要因素是射源尺寸d和焦距f的大小。 焦距即射源至工件表面的距离。 射线源愈小、焦距愈大时，半影就愈小。 但焦距大则射线强度低，即曝光时间延长，既降低检测效率又增加散射线。 实际工作中，要综合考虑。 几何不清晰度允许值也可用图中曲线表示。 由于焦距不能过大，这就是在射线照相中为什么希望尽量采用小焦点X射线机的道理。 (3)射线能量的选择 射线能量决定于管电压，管电压愈高则射线能量愈大，探伤时穿透能力愈强。 射线能量不仅与被透照工件厚度有关，而且与透照灵敏度有关。 在能够透过工件的前提下，尽量采用较低管电压，以便提高底片灵敏度和射线照相质量。 缺陷部位与无缺陷部位的黑度差取决于胶片上射线强度差，强度差取决于衰减系数，衰减系数愈大则射线强度差愈大。 衰减系数与射线波长是三次方正比关系，射线能量愈大，衰减系数愈小。 在能穿透工件的情况下，尽量采用较低的管电压，减少射线能量。 此时被透照工件对射线的吸收能力增强，这就使有缺陷部位和无缺陷部位的黑白对比度增大，从而提高了底片灵敏度。 此外，管电压愈高，它使底片产生的固有不清晰度愈大，有时称为胶片不清晰度，它与射线的能量有关。表为固有不清晰度的实验值。 为防止管电压过高使底片质量下降，在射线检测标准中，对不同材料各种厚度允许的最高管电压作了限制，如图所示 在射线检测标准中，对不同材料各种厚度允许的最低管电压没有限制，但也不宜过低。 因为X射线强度与被照射面到射线源之间的距离的平方成反比。 管电压较低，衬度较高，显示多层次厚度的能力降低了，射线检测的宽容度降低了。