应用可靠性复习思考题010225汇编.doc

《电子元器件应用可靠性技术》复习思考题 时间： 年 月 日 地点： 姓名： 一、应用可靠性概念 选择题 1-1 若器件的失效率随时间的增加而减少，则该器件处于 损耗失效期；B. 早期失效期；C. 偶然失效期 1-2 决定微电子器件应用可靠性的是 器件的质量；B. 器件的正确使用；C. 以上二者 1-3 不当使用引入的损伤会引起 器件电参数变化；B. 器件电参数不变化；C. 二种可能性都有 1-4 在以下哪个阶段，提高器件可靠性的费用最低 设计阶段；B. 测试阶段；C. 生产阶段 1-5 对静电最敏感的集成电路是 A．模拟IC；B. 电源IC；C. CMOS IC 1-6 对潮湿最敏感的半导体器件是 A．放大器件；B. 塑封器件；C. 功率器件 1-7 器件集成度提高导致其抵抗外界应力能力下降的原因之一是 A．工作电压上升；B. 功耗电流加大；C. 内部电场增强 综合叙述题 随着以集成电路为代表的电子元器件的高速发展，为什么应用可靠性问题总体上没有得到缓解，而且越来越严重？ 电子元器件的正确选用 选择题 高可靠整机多用集成电路、少用分立元件的原因是 A．单个集成电路的可靠性优于单个分立元件；B. 减少器件间的连线与接点；C. 安装简单 一般而言，下列哪一种说法是正确的 A．成品率高，可靠性一定好：