制程能力与制程指数.ppt

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2017-07-06 发布于湖北
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制程能力与制程指数概要1

* * QE FULL TRAINING COURSE Course Number:QEA9911 Course Name Cp Cpk Comcept 制程能力與制程能力指數概念 Prepared By:Kimble Tang Cp Cpk Concept Process Performance Metrics 制程能力測量指標 1.Cp Potential Process Capability Index 2.Cpk Process Capability Index (測量制程能力) 3.St Instability Index(測量制程穩定性) ≡ ≡ ≡ Cp Cpk Concept Potential Process Capability Index 定義 Cp Spec.whdth USL - LSL Process Spread 6 Sigma = ≡ Potential Process Capability Index(Cp) LSL Spec Width USL Process Width Cp Cpk Concept Potential Process Capability Index(Cpk) 當我們考量Cp時,是假設Spec之中心點與制程能力曲線之中心點是一致的.這種情況是沒有偏移,也是一個理想情形,但實際上,制程能力曲線是因某些制程條條件而飄移.所以會產生一個Correlation factor, K值. K值的定義 Cpk之定義 Target - Process Mean 1/2 Spec Width k≡ Cpk Cp(1- k) Mean - Closer Spec limit 3 Sigma Cpk≡ ≡ Cp Cpk Concept Potential Process Capability Index(Cpk) Cpk的定義由左圖得知: Target - Process Mean 1/2 Spec Width Process Mean = x; Target - Process Mean = D- x=d1 ∴ k = d1/d2 (0≦k1) ∴ Cpk = Cp (1-k) Cpk = Cp (1-d1/d2) Cpk = Cp (d2-d1)/d2 ∴ Cpk = (d2-d1)Cp d2 or where Cpk = kCp d2 - d1 d2 LSL (Target) USL D X d2 d1 Process Capability Index(Cpk) 圖示不良品 k = k = Cp Cpk Concept Cpk 的檢討 CaseI 當制程曲線之x與Target(D)一致時, D-x 1/2(H-L) 故 Cpk = Cp(1-k) = Cp(1-0) = Cp (理想情況) 當制程曲線向右飄移一個σ時 ∵ D-x σ σ 1 1/2(H-L) 1/2(8σ) 4σ 4 故Cpk = Cp(1-k) = Cp(1-0.25) = 0.75Cp ∴Cpk = 0.75Cp 少25% 當制程曲線向右偏移至其Mean(x)與Upper Sperc Limit(H)相同時,則 D- X 4σ 4σ 1/2(H-L) 1/2(8σ) 4σ 故 Cpk = Cp(1-k) = Cp(0) = 0 CaseII CaseIII k= (∵D=x) k=0 Cpk = Cp k= L D H L