数字电路的测试.docVIP

4．7数字电路的测试 数字电路的调试，主要是检测电路能否满足设计要求的逻辑功能以及电路能否正常工 作，通过必要的调整，达到设计要求。数字电路的调试也应遵循一般电子电路“先静态、 后动态”的原则。本节主要讲述集成门电路的测试、组合逻辑电路的测试和时序逻辑电路 的测试等。 4．7．1 集成门电路的测试 集成门电路的静态测试，一般采用模拟开关输入模拟高、低电平，用发光显示方式或万 用表、逻辑测试笔测试输出的高、低电平，看其是否满足门电路的真值表。动态测试时，各 输入端接入规定的脉冲信号，用双踪示波器直接观察输入、输出波形，并画出这些脉冲信号 的时序关系图，看输入、输出是否符合规定的逻辑关系。 1．cMOS门电路的测试 以cD4012为例讲行分析。CD4叭2是双四输入与非门，由两个四输入端的与非门制造 在同一器件内，其引脚排列如图4-35所不。 14脚接电源U。。，7脚接地。2、3、4、5为一个与非门的输 入端，1为输出端；9、10、11、12,为另一与非门输入端，13为 输出端。 两与非门单独测试。测试时，测试电路应正确连接，以免损 坏器件或引起逻辑关系混乱，使测试结果不正确。CMOS与门和 与非门多余的输入端不允许悬空，应接+u。D，电源电压不能接 反，输出端不允许直接接+u。D或地，除三态门不允许两个输出端并联使用。测试时应先加 电源