带分复用的3D NoC测试规划研究.pdfVIP

摘 要 摘 要 随着半导体集成工艺和制造工艺的不断发展，集成电路的规模越来越大，片上网 络 （Network-on-Chip, NoC ）作为下一代大规模集成电路设计的主流技术，其发展受 到了平面结构的限制。而3D IC 技术日渐完善，一些学者提出了NoC 与3D IC 技术 融合而成的3D NoC 技术，其已成为解决二维架构片上网络瓶颈问题的可靠方案。但 是3D NoC 的复杂度、集成度以及IP 核数量的增加，使得IP 核的测试面临着效率低、 测试调度复杂、成本高等问题。测试规划是提高测试效率的有效方法，如何开拓新思 路研究新方法，提出一种高效的测试规划方案对3D NoC 技术的发展具有重要的现实 意义。 本文在研究3D NoC 基本结构和与IP 核测试相关技术的基础上，基于重用NoC 作为测试存取机制 （Test Access Mechanism，TAM ）的并行测试方法，针对IP 核测 试数据传输带宽与TAM 带宽不匹配的问题，提出带分复用方法对单一TAM 实施动 态细分，使得多个核的测试数据可以共享同一物理TAM 并行传输。并结合3D NoC 结构设计二维编码建立带宽分配和测试顺序模型，采用多种群遗传模拟退火算法 （Multi-population Genetic-Simulated Annealing Algorithm，MPGSAA ），在总功耗、层 功耗双重约束以及带宽约束下对IP 核的带宽分配和测试调度顺序进行双重优化，提 高并行测试效率以获得最短测试时间。算法中针对测试调度顺序优化设计移位互换杂 交策略，并运用精英配对方法加快种群寻优速度，设计求精操作进一步优化测试时间， 通过比较、淘汰、替换机制加强种群间交流，增加种群多样性，避免算法陷入局部最 优。 最后以IT’C02 标准电路集作为实验对象实施仿真测试。实验主要针对采用带分 复用方法与单一TAM 只传输单个IP 核的测试数据的方法对相同测试电路实施测试规 划的结果进行比较分析；研究了选取不同数量的TAM 对测试时间的影响，以及不同 测试功耗限制的选择对测试结果的影响。实验结果表明采用带分复用方法对3D NoC 实施测试规划能有效地减小系统测试时间、降低资源占用、提高测试效率。 关键词：三维片上网络；带分复用；并行测试；多种群遗传模拟退火算法 I 万方数据 Abstract Abstract With the rapid development of semiconductor integration technology and manufacturing technique, the scale of the integrated circuit is increasing, NoC as the mainstream technology of the next generation of large scale integrated circuit design, has been limitated by the planar structure. At the same time, 3D IC technology gradually improved, 3D NoC which is the integration of NoC and 3D IC technology was p