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S-801系列电压检测器 - SII Semiconductor Corporation
S-801 系列
超小型 内置延迟电路(内部设定延迟时间)
高精度电压检测器
© SII Semiconductor Corporation, 2000-2016 Rev.4.2_00
S-801 系列是使用 CMOS 技术开发的、内置了固定的延迟时间发生电路的高精度电压检测 IC。检测电压在内
部被固定,精度为±2.0 % 。另外,因为在内部还内置有振荡电路以及计数定时器,所以不需外接元器件就能延
迟解除信号,该延迟时间有 3 种。在输出方式上备有 N 沟道开路漏极输出和 CMOS 输出。
特点
• 超低消耗电流 1.3 μA 典型值(VDD=3.5 V 时)
• 高精度检测电压 ±2.0 %
• 工作电压范围 0.95 V ~ 10.0 V
• 滞后特性 60 mV 典型值
• 检测电压 2.2 V ~ 6.0 V(进阶单位为 0.1 V)
• 3 种延迟时间 A 系列 50 ms 典型值
B 系列 100 ms 典型值
C 系列 200 ms 典型值
• 备有延迟时间的 ON/OFF 切换功能(DS 端子)
• 输出方式 N 沟道开路漏极输出(动态 Low)
CMOS 输出(动态 Low)
*1
• 无铅、Sn 100% 、无卤素
*1. 详情请参阅“ 产品型号的构成” 。
用途
• 笔记本电脑、数码静像相机、PDA、携带电话等携带设备用电源的监视
• 照相机、视频设备、通信设备等的稳压电源的监视
• 微机用电源的监视以及 CPU 的复位
封装
• SOT-23-5
• SNT-4A
1
超小型 内置延迟电路(内部设定延迟时间) 高精度电压检测器
S-801系列 Rev.4.2_00
框图
1. N 沟道开路漏极输出产品
VDD
延迟电路
+ 振荡电路 OUT
*1 − 计数器时
钟 *1
VREF *1
VSS
DS
*1. 寄生二极管
图 1
2. CMOS 输出产品
VDD
延迟电路 *1
+
振荡电路 OUT
*1 − 计数器时
钟 *1
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