电子元件试验标准大全概要1.pptVIP

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  • 2017-07-23 发布于湖北
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电子元件试验标准大全概要1

连接器测试标准 序号 测试类型 测试名称 测试目的 测试依据 测试标准 测试设备 测试方法 注意事项 17 环境特性 高温测试 为了评估样品处于高温环境之承受能力的测试,以探究样本因高温失效的原因及先期规划。 业界规范MIL-STD-1344A, METHOD 1005 高温烤箱 1、将受测之样品放置于预先设定好的烤箱内。 2、预热烤箱至所指定之温度及设定测试总时间如: 85±2 ℃共计300小时。 1、通常样本为MARING状态方可接受测试。 2、样本取出烤箱后直到常温时,方可执行后续之测试。 3、若有特别规定,需量测样本本身的温度,而非只是对烤箱温度作量测。 高温测试 连接器测试标准 序号 测试类型 测试名称 测试目的 测试依据 测试标准 测试设备 测试方法 注意事项 18 环境特性 镀层针孔测试 为了造就镀层针孔规模大小及严重程度,并在接触表面形成不纯的物质。针孔或不纯物质 所占有的区域,为端子之底材或电镀层厚度不够所致。而这些区域有足够规模去扩散来影响接触表面,危害到样本的电气特性 业界规范EIA-364-53 1、密闭容器 2、实体显微镜 1、测试样品必须清洗。利用三氯乙烷及高纯度酒精之蒸气大油渍去除。 2、将足够计量之硝酸(50~100ml/liter、70±1%NHO3)放置于密闭容器中,而使其在容器蒸发呈现饱和状态,注意将容器置于室温下的环境且相对湿度<60%RH

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