美国Innov-X（伊诺斯）第三代产品创新.docVIP

美国Innov-X（伊诺斯第三代产品系列分析仪 一、基本操作： 装入电池，轻按开关 双击Innov-x分析软件 点击START 开始系统自检 将标准块紧贴探测窗口 点击Cal开始标准化（校准） 进入待机状态（测试界面） 备注：关机后，短时间内再次开机时，无需标准化，仪器会直接进入工作待机状态。 ( 测试： 选择合适的测试模式[Mode]，再进行必要的设置[Set Up] ( 关机： 点击Home按钮 点击设置Setup按钮 点击退出Exit按钮 点击关机按钮 备注：退出软件并关闭仪器后，应将电池取出。将仪器放入手提箱内妥善保存。 二、软件： 测试界面 结果界面 模式界面 设置界面 参数设置 校准（标准化） 开始/停止测试 按日期指定结果 显示光谱 显示元素 确认并保存 退出不保存 触摸屏保护锁开/关 电池电量 隐藏/显示功能图标 还原全景光谱 错误信息提示 ( 测试界面： ( 模式选择界面： 在任意界面下，点击按钮，进入首页界面Home，进入模式选择界面。 点击一下要选择的模式，即可进入测试界面开始测试。 测试模式： Fast ID：快速识别 首先选择一个合金指纹信息，然后用这个模式 快速识别待检测的样品是否与此指纹一致。 Alloy：合金分析模式 普通的合金分析模式，识别合金牌号及其成分含量。 Alloy Plus：加强型合金分析模式 加强型的合金分析模式，除识别常规金属元素外， 还可识别诸如Mg、Al、Si、P、S等轻质元素。 在模式选择界面，点击左下方的进入模式设置： (测试条件设置 Single Beam-Suppress LE detection：单光束，忽略LE轻元素。用于分析不含轻元素的合金材料。 Single Beam-With LE detection ：单光束，识别LE轻元素。用于分析含轻元素的合金材料 但只关心其中的常规元素的含量。 Two Beam Always(Al,Si,Mg,S,P)：打开双光束，可分析Al,Si,Mg,S,P等轻元素 Smart Sort：智能射线，用于区分钛或钒元素有细微差异的合金（如304和321） 备注：[Smart Beam]智能射线提供了两种使用模式：快速区分[Quick Sort]对于只是钛或钒元素有细微差异的合金（如304和321），会自动启动二重射线完成测试。精确分析[Precision]则在每一个测试中都采用智能射线，以获取钛与钒的精确值。 (测试标签： 测试诸多样品时，为避免测试结果混淆，用户可通过修改测试标签对样品进行标注。 (牌号等级库管理 ( 结果界面：在任意界面下，点击按钮，进入结果界面，查看测试数据。 ( 结果数据导出： ( 查看光谱： 在测试界面或结果界面点击右上方的按钮查看光谱；点击查看结果。 光谱放大后点击还原全景光谱。 ( 系统设置界面：在首页界面点击Setup设置按钮，进入系统设置界面。 三、Delta合金分析仪使用的注意事项： 分析合金材料之前，应先选择Alloy Plus模式，并设置正确的模式选项。 分析铝合金、镁合金、铝镁合金等含轻元素的材料，必须选择Two Beam Always(Al,Si,Mg,S,P)。 分析不含轻元素的合金材料，可选择Single Beam-Suppress LE detection或-With LE detection， 设置测试时间：仅识别合金牌号，一般设置为10秒左右；分析各成分含量，一般为20秒左右；分析轻元素时，一般Beam1设置为10秒，Beam2设置为30秒。 若只关心所测样品是不是某个牌号的合金，可采用合格/不合格[Pass/Fail]模式。打开Pass/Fail（合格/不合格）模式，选择一个指定的合金牌号，即可进行快速分拣分析。 对于各种牌号的合金材料混杂在一起，需要快速分拣识别，可选用快速识别[Fast ID]模式， 四、辐射安全 在任何时候和任何情况下把X射线安全放在首位。 根据有关安全规程，只有经过培训和有授权的操作人员才能使用Innov-X分析仪留意所有的警告标签和信息 如果该仪器有可能遭到了破坏或可能有辐射泄露，不要使用该仪器。不要对准自己或其它任何人。测试时不要用手拿着样品。 五、 探测窗口和样品之间为零距离，不应有空隙。 分析样品时，仪器和样品要保持稳定，不要晃动。 分析较小较薄的样品时，要注意其背后不应有其他物体衬托，以防干扰。 大型的金属样品，应多选几个点，多测几次，以获取更加准确的结果。 六、 备注： 如图，将接驳座接通电源，可同时对仪器内的电池及备用电池充电； 将USB数据通讯接口与电脑连接，可将仪器内的测试数据导