MCU接口信号（时序）描述MCU接口模块电路设计.PPT

MCU接口模块电路设计 * * MCU接口模块电路设计 功能描述 1、主要实现对MCU接口信号的内部系统时钟的同步、读写控制的译码； 2、完成MCU对状态寄存器的读、检测使能寄存器的写和测试表的读写功能。 表1 MCU接口模块管脚列表 MCU接口模块电路设计 I MCU时钟，19M Clk_MCU I MCU写使能信号，低有效 MCU_We_n I MCU读使能信号，低有效 MCU_Rd_n I MCU片选信号 MCU_CS_n O MCU读数据 Datar[7:0] I MCU写数据 Dataw[7:0] MCU接口 I MCU读写地址 Addr[15:0] 接口模块 I/O 定义 信号 MCU接口信号（时序）描述 MCU接口模块电路设计 O MCU写测试表使能，低有效 MCU_Tab_we_n O MCU读测试表使能，低有效 MCU_Tab_Rd_n O MCU写测试表寄存数据 MCU_Tab_Dataw[7:0] O MCU读写测试表寄存地址 MCU_Tab_Addr[3:0] O 自动扫描测试启动信号 Scan_Start I MCU读测试表寄存数据 MCU_Tab_Dater[7:0] 自动扫描模块接口 I 测试状态，具体比特位见检测状态寄存器 State_Reg[7:0] 接口模块 I/O 定义 信号 表2 自动扫描模块管脚列表 MCU接口信号（时序）描述 MCU接口模块电路设计 I 系统时钟50M Clk_50 外部接口 I 复位信号 Rst RAM接口 O 工作模式，0正常，1扫描模式 Mode 接口模块 I/O 定义 信号 表3 RAM和外部接口管脚列表 MCU接口信号（时序）描述 MCU接口模块电路设计 MCU控制过程示意图 以两次扫描测试为例，MCU控制过程示意图如下： Command: 工作模式: S_busy: S_end: AAH 55H 55H AAH 正常 扫描测试工作模式 正常工作模式 该次扫描已结束 该次扫描已结束 第一次自动 扫描测试 第二次自动 扫描测试 图1 MCU读时序 MCU接口模块电路设计 Tprd Trc Trd Tz Tad Tcr MCU_CS_n MCU_rd_n Addr[15:0] Data[7:0] 图2 MCU写时序 MCU接口模块电路设计 Tswr Tpwr Twc Thwr Tcw MCU_CS_n MCU_we_n Addr[15:0] Data[7:0] MCU接口时序参数设计 Tpwr/Tprd按实际设定为100ns，Tswr按实际设定至少100ns 表4 MCU时序的参数表 MCU接口模块电路设计 ns - 2 Thwr 写信号无效后数据的保留时间（hold time） ns - 6 Tswr 数据有效到写信号有效的建立时间（setup time） ns 5 2 Tz RDN上升沿到数据无效的时间 ns 25 13 Tad 地址变化到数据有效的延时 ns - 10 Tpwr/Tprd 读写控制信号有效长度 ns - 0 Twc/Trc 读写控制信号无效到片选无效的时间 ns 23 11 Trd 读有效到数据有效的延迟时间 ns - 0 Tcw/Tcr 片选有效到读写控制信号有效的时间 单位 最大值 典型值 最小值 符号 参数 功能实现 1 MCU的接口采用异步方式，即MCU对外设读写是用读写使能信号（MCU_Rd_n和MCU_We_n）的上沿。 为保证数据的稳定采样，实际设计中，MCU写时，用MCU_We_n的上沿来寄存地址和数据并在上沿进行写操作；MCU读时，用MCU_Rd_n下沿来寄存地址和数据，并在MCU_Rd_n的上沿到来时准备好所读的数据，保证MCU在MCU_Rd_n的上沿能正确读出数据。 MCU读写时钟周期按实际设为100ns。 MCU接口模块电路设计 功能实现 2 模块设计需完成如下工作:命令寄存器的读写操作、状态寄存器读操作和测试表的读写操作、根据状态命令字译码自动扫描启动信号和工作模式。 模块包括：MCU总线的50M时钟的同步（请注意考虑CS信号和使能信号与地址线和数据线的异步处理）；写操作时的地址、数据寄存和写信号的寄存；读操作时的地址寄存、读数据的选择和读信号的寄存。 MCU接口模块电路设计 检测使能寄存器command_register 读/写地址：0210H 表5 command_register MCU接口模块电路设计 55H：进入扫描工作模式并启动一次扫描操作。 AAH：检测使能关闭，进入正常工作模式。 说明 可读可写 操作 Command[7：0] 名称 [7：0] 位域 检测使能寄存器comma