应用笔记 - Read.PDF

应 用 笔 记 AN018 用过采样和求均值提高ADC 分辨率 相关器件 本应用笔记适用于下列器件 C8051F000 C8051F001 C8051F002 C8051F005 C8051F006 C8051F010 C8051F011 C8051F012 C8051F015 C8051F016 C8051F017 引言 很多应用需要使用模/数转换器 ADC 进行测量 这些应用所需要的分辨率取决于信号的动 态范围 必须测量的参数的最小变化和信噪比 SNR 因此 很多系统使用较高分辨率的片外ADC 然而也可以通过使用一些技术来达到较高的分辨率和SNR 本应用笔记介绍用过采样和求均值的方 法来提高模数转换的分辨率和SNR 过采样和求均值技术可以在不使用昂贵的片外ADC 的情况下提 高测量分辨率 本应用笔记讨论如何使用过采样和求均值的方法来提高模/数转换 ADC 测量的分辨率 另 外 本文最后的附录A B和C分别给出了对ADC 噪声的深入分析 最适合过采样技术的ADC 噪声 类型和使用过采样和求均值技术的示例代码 关键点 可用过采样和求均值技术提高测量分辨率 不必采用昂贵的片外ADC 过采样和求均值对SNR和测量分辨率的改善是以增加CPU时间和降低数据吞吐率为代价的 对于白噪声的情况 过采样和求均值可以改善信噪比 采样 频率(fs) e[n](噪声) 输入信号 过采样和平均 x(t) x[n] x[n]+e[n] n位 OSR (n+w)位 ADC 输出数据 低通滤波器 降采样 (软件累加和转储) 图1. 用过采样和求均值使测量分辨率增加 W 位 AN018 用过采样和求均值提高ADC 分辨率 数据转换器噪声源 ADC 转换时可能引入很多种噪声 例如 热噪声 杂色噪声 电源电压变化 参考电压变化 由采样时钟抖动引起的相位噪声以及由量化误差引起的噪声 由量化误差引起的噪声通常被称为量 化噪声 这些噪声源的噪声功率是可以变化的 有很多技术可用于减小噪声 例如 精心设计电路 板和在参考电压信号线上加旁路电容 但是ADC 总是存在量化噪声 所以一个给定位数的数据转 换器的最大 SNR 由量化噪声 不使用过采样技术时 定义 在正确的条件下 过采样和求均值会 减小噪声和改善SNR 这将有效地提高测量分辨率的位数 图1 所示的系统可以用Cygnal 的片内 ADC 和一个软件子程序来实现 软件程序先采样一组样本 然后求这些样本的平均值 滤波 而 得到结果 提高ADC 测量的分辨率 很多应用需要测量大动态范围的信号值 还可能需要用高分辨率测量某个参数的微小变化 例 如 ADC 要测量很大的温度范围 还要求系统对小于 1 度的变化做出响应 这样的系统可能需要 16 位的测量分辨率 使用Cygnal 的片内12 位ADC 并采用过采样和求均值技术即可达到以 16 位 分辨率测量某个参数的目的 而不必使用昂贵的片外16 位ADC 某些应用要使用ADC 分析带有高频成分的信号 这样的系统也会从过采样和求均值技术受益 根据奈奎斯特定理 所要求的采样频率为奈奎斯特频率