感应耦合电浆发射光谱仪iCAP 6000 Series 操作步骤.PDF

感應耦合電漿發射光譜儀 iCAP 6000 Series 操作步驟 樂盟科技有限公司 Joy Allied Technology Inc. 1. 原理簡介 感應耦合電漿原子發射光譜法 （Inductively Coupled Plasma Optical Emission Spectrometry, ICP - OES ）對水樣中多元素進行 分析時，樣品先 經霧化器霧化後形成霧狀細粒藉由載流氣體送入電漿焰炬，再經由高頻 無線電波感應耦合電漿的加熱，使霧狀樣品受熱而起一系列的去溶 劑、 分解、原子化／離子化及激發等反應。由待測元素受激發的原子或離子 所放射出之光譜線，經光柵分光產生各特定波長的發射譜線，並由光電 元件CID 偵測，即可對各元素進行之定性及定量 分析。 本方法具有快速、靈 敏及精密的分析特性。分析時存在的干擾可分 為光譜性干擾和非光譜性干擾；非光譜性干擾又可區分為化學干擾和物 理干擾。光譜性干擾可以變更所選擇的譜線以避開譜線重疊的干擾；量 測時，為補償因光譜背景值之不同所導致之誤差，應針對背景值進行修 正，背景扣除之位置，必須儘可能避免其它譜線的干擾，以具有與分析 譜線位置相同的背景干擾程度為準。化學性干擾可以改變火焰溫度 、載 流氣體 流量來降低化學性干擾；物理性干擾可以利用稀釋樣品濃度或內 標準品的添加來克服的物理性干擾。 進行樣品分析前，所有水溶液或固態基質樣品，都 需經適當的酸消 化方法處理 。對於基質複雜的樣品而言，可採用稀釋法，內標準法或基 質匹配法（ matrix-matched ），進行定量測定的工作；盡可能以稀釋法對 各類干擾進行校正工作。 2. 儀器設備 (1) 感應耦合電漿發射光譜儀（ ICP-OES ） 光譜偵測系統為同時式或連續式，電漿觀測位置垂直(Radial或軸向) (Axial)觀測之型式。並須具有背景校正及波長校正的功能。 (2) 質 流控制器（Mass Flow Controller ） 具有調節氬氣流量之功能。 (3) 蠕動幫浦 具有可調速度功能，以輸送樣品及標準溶液至霧化器。 (4) 自動取樣器 3. 操作步驟 3.1 儀器開關 (1) 打開氬氣桶液氬之開關（Valve ）。 (2) 打開氬氣開關閥門，使儀器內的氬氣壓力約維持在 90 psi 左右。 (注意：至少以Norma l強度 Purge 光室 30 分鐘才能開冷卻循環水） (3) 打開抽氣罩之開關，並裝好蠕動 pump 之管線。 (4) 打開冷卻循環水開關。 (4) 打開電腦(螢幕 ) ，點選iTEVA 之 icon 。出現圖(1)之畫面。 若 無特別設定，在 User Name 鍵入 admin即可 圖 (1) 分別輸入使用者名稱及密碼之後，進入如圖(2)之 iTEVA軟體畫面。 點火按此處 圖 (2) (5) 按圖(2)右下角中 點火的 icon （圈圈處）。即出現如圖(3)之 畫面。 圖 (3) 若 [Instrument Status…]燈號為綠色，按 [Plasma On點火] 若 [Instrument Status…]燈號為紅色，可以點入即出現各個狀況如圖 4 。 圖( 4) 若要熄火時則