电阻应变片的发展与应用 - ok.ppt

实验应变分析－主要的测试方法 电测法 包括电阻、电容、电感测试法 电阻法较常用，具有高灵敏度和精度。因是电信号测量，易于实现数字化、自动化；可用于不同环境下的测量；成本低廉。缺点是只能点测量固定方向应变，不能全域测量。 光测法 －包括光弹性、全息干涉、激光散斑干涉、云纹法等 光弹性法应用广泛，是利用偏振光通过具有双折射效应的透明受力模型从而获得干涉条纹图，可观察全域应力分布情况；快速测定应力集中系数；内外部边界应力测量。但周期长、成本高。 机械测试法 －利用引伸仪测定试件变形需经过放大。有杠杆式和齿轮式两种。 电阻应变片的发展与应用 －电阻应变片测量技术起源于19世纪。 －1856年，汤姆逊对金属丝进行了拉伸试验，发现金属丝的应变和电阻的变化有一定的函数关系；之后，人们利用惠斯登电桥来精确地测量电阻的变化。 －1938年，E·西门斯（E．Simmons）和A·鲁（A．Ruse），制出了第一批实用的纸基丝绕形式电阻应变片。 －40年代，出现了可调节的由测量电桥和放大器组成的电阻应变仪，使电阻应变测量技术在工程技术和科学实验领域内获得广泛的应用。 －1953年．P·杰克逊利用光刻技术，首次制成了箔式应变片，随着微光刻技术的进展，这种应变计的栅长可短至0.178mm －1954年．史密斯发现半导体材料具有的压阻效应。 为了克服直流放大器信息的漂移和线性精度度差等缺点，传统的电阻应变仪都采用交流放大器．以载波放大方式传递信号．这种仪器的性能稳定，其精度能满足一般的测试要求，但它的工作频率受载波频率的限制，而且存在电容,电感影响，测量精度等问题。 －1957年，W.P.Mason，等研制出半导体应变片，其灵敏系数比金属丝应变片高50倍，现已用于不同环境、条件下各种类型的电阻应变片，还有用于测量残余应力和应力集中等的特殊应变片 －60年代，出现了采用直流放大器的电阻应变仪。 近来，朝着数字化、自动化方向发展，现已有数字式测量动、静态数据采集处理系统。目前，各种不同规格、不同品种的电阻应变片已有二万多种 －电阻测量技术可分为静态应变测量和动态应变测量两类。 －恒定的载荷或短时稳定的载荷的测量，称为静态测量； －对载荷在2-1200Hz范围内变化的测量，称为动态测量。 －不同的工作温度对电阻应变片和导线等有不同的要求，一般将应变测量按工作温度分为五个区段： 常温应变测量： 30一60C0 中温应变测量： 60一300C0 高温应变测量： 300C0 低温应变测量： -30一-l00C0 超低温应变测量： -l00C0 线性度 －要求输入与输出的关系是线性； 灵敏度 －输出的变化量与输入变化量的比值； 滞后现象 －输入量增、减时，输出量不同，出明显滞后现象； 灵敏度与分辨率 －当输入量由零增大时，能够测量到的最小值称为灵敏度； 零飘与温飘 －输入量不变，环境温度不变，输出量随时间变化成为零飘；外界温度变化所引起的变化成为温飘； 电阻测量应变原理及方法 电阻应变片测量技术 －是用电阻应变片测量构件的表面应变，在根据应力－应变关系式，确定构件表面应力状态的一种实验应力分析方法。 测试过程： 被测部件 应变片 测量电路 放大线路 显示记录 电阻应变片 应变片的工作原理 因绝大部分金属丝受到拉伸或缩短时，电阻值会增大(或减小)，这种电阻值随形变发生变化的现象，叫做电阻应变效应． 电阻应变片就是基于金属导体的电阻应变效应制成的。 电阻应变片 当电阻丝受到拉伸、压缩时有下式存在 电阻应变片 常有电阻应变片的灵敏系数 电阻应变片 电阻应变片的构造 电阻值下限： 单用一根金属丝作为敏感元件来测量应变，在理论上是可能的。然而，为了防止电源超载，并使金属丝中电流所产生的热量不过大，金属丝的电阻值不能太小，对金属丝的阻值绐定一个下限：约为100 比如：若用直径为0.025mm、电阻为1000 的金属丝制造一个100 的应变计，就要求单根丝长为100mm。应变测量时，往往要求测量构件表面一点处的应变。把电阻丝做成栅状，直接粘贴于构件表面，就能使电阻丝长度问题及应变片安装问题得到解决。 电阻应变片的构造 电阻应变片主要由敏感栅、基底、引线、粘结剂和覆盖层五部分组成。 电阻应变片的构造 电阻应变片性能参数 应变片电阻 在无受力及室温测定下的电阻值。 通常：120；250；300；500；1000 灵敏系数 轴向受力，应变片电阻值的变化与沿轴向应 变的比值。 电阻应变片性能参数 K －是反映电